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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利双阶梯法布里珀罗静态干涉傅里叶变换光谱仪获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119688068B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510216881.9，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权双阶梯法布里珀罗静态干涉傅里叶变换光谱仪是由吕金光;梁静秋;赵百轩;陈宇鹏;赵莹泽;郑凯丰;王惟彪;秦余欣设计研发完成，并于2025-02-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本双阶梯法布里珀罗静态干涉傅里叶变换光谱仪在说明书摘要公布了：本发明涉及光谱成像领域，尤其涉及一种双阶梯法布里珀罗静态干涉傅里叶变换光谱仪，包括光源、准直镜、法布里珀罗阵列干涉系统、缩束光学系统和面阵探测器；光源用于发出光束；准直镜用于将光源发出的光束准直为平行光束；法布里珀罗阵列干涉系统用于将目标光场调制成干涉光场阵列，其包括阶梯方向正交的两个阶梯透镜，两个阶梯透镜最高的台阶紧密贴合，使得两个阶梯透镜之间形成厚度呈棋盘格状二维递增式变化的空气间隙；缩束光学系统用于将法布里珀罗阵列干涉系统调制的干涉光场成像到面阵探测器上，获得干涉图像阵列。本发明具有体积小、重量轻、结构紧凑、静态、稳定、可靠等优点。

本发明授权双阶梯法布里珀罗静态干涉傅里叶变换光谱仪在权利要求书中公布了：1.一种双阶梯法布里珀罗静态干涉傅里叶变换光谱仪，其特征在于，包括光源、准直镜、法布里珀罗阵列干涉系统、缩束光学系统和面阵探测器；其中， 光源位于准直镜的物方焦面上，用于发出光束； 准直镜用于将光源发出的光束准直为平行光束； 法布里珀罗阵列干涉系统位于准直镜的平行光路中，法布里珀罗阵列干涉系统用于将目标光场进行调制形成干涉光场阵列，法布里珀罗阵列干涉系统包括阶梯方向正交的第一阶梯透镜和第二阶梯透镜，第一阶梯透镜和第二阶梯透镜分别作为法布里珀罗阵列干涉系统的前干涉板和后干涉板，第一阶梯透镜的台阶级数为M，第二阶梯透镜的台阶级数为N，第一阶梯透镜的任意相邻两个台阶之间的台阶高度差均为d，第二阶梯透镜的任意相邻两个台阶之间的台阶高度差均为Md，第一阶梯透镜最高的台阶与第二阶梯透镜最高的台阶紧密贴合，使得第一阶梯透镜与第二阶梯透镜之间形成厚度呈棋盘格状二维递增式变化的空气间隙，空气间隙每个区域的厚度分别对应一个光程差，第一阶梯透镜、空气间隙与第二阶梯透镜组成FP谐振腔阵列； 第一阶梯透镜与第二阶梯透镜相对的两个表面分别作为反射界面，两个反射界面与空气间隙形成FP谐振腔，两个反射界面的反射率为30%~40%； 第一阶梯透镜与第二阶梯透镜分别包括台阶基底，当台阶基底采用高折射率介质时，在高折射率介质的台阶基底的上表面不予镀膜并作为FP谐振腔的反射界面，在高折射率介质的台阶基底的下表面蒸镀增透膜；当台阶基底采用低折射率介质时，在低折射率介质的台阶基底的上表面蒸镀高折射率介质膜并作为FP谐振腔的反射界面，在低折射率介质的台阶基底的下表面蒸镀增透膜；低折射率介质采用石英、氟化钙、氟化镁或蓝宝石介质材料；高折射率介质采用硅或锗介质材料；高折射率介质膜采用硅膜或锗膜； 对于入射的宽带光谱，第一阶梯透镜的台阶高度差d满足如下关系： ； 其中，λmin为宽带光谱的最小波长，θmax为最大视场角光线在FP谐振腔中对应的入射角，J为光谱谐波级次，n0为FP谐振腔中的介质折射率； 对于入射的窄带光谱，第一阶梯透镜的台阶高度差d满足如下关系： ； 其中，λS为窄带光谱的最短波长，λL为窄带光谱的最长波长，k为光谱折叠级次，取小于等于的任意整数； 缩束光学系统位于法布里珀罗阵列干涉系统的出射方向上，采用双远心光路结构，用于将法布里珀罗阵列干涉系统调制的干涉光场成像到面阵探测器上，获得干涉图像阵列。

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