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龙图腾网获悉沐曦集成电路(上海)有限公司申请的专利光栅模块验证方法、装置、设备、存储介质和程序产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119228625B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411747179.7，技术领域涉及：G06T1/20；该发明授权光栅模块验证方法、装置、设备、存储介质和程序产品是由孟宾设计研发完成，并于2024-12-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本光栅模块验证方法、装置、设备、存储介质和程序产品在说明书摘要公布了：本申请涉及一种光栅模块验证方法、装置、设备、存储介质和程序产品。所述方法包括：首先，生成用于对目标光栅模块进行验证的测试数据，然后，将测试数据输出至目标光栅模块，以通过目标光栅模块生成第一图片，接着，将测试数据发送至包括合格的光栅模块的参考GPU，以通过参考GPU生成第二图片，最后，将第一图片与第二图片进行对比，得到目标光栅模块的功能验证结果。采用本方法能够不需要人工编写测试用例对目标光栅模块进行功能验证，避免了人为因素的影响，对光栅模块的验证的准确性更高，进一步地，通过自动进行对比得到验证结果，验证的效率更高。

本发明授权光栅模块验证方法、装置、设备、存储介质和程序产品在权利要求书中公布了：1.一种光栅模块验证方法，其特征在于，所述方法包括： 生成测试数据，所述测试数据用于对目标光栅模块进行功能验证；所述测试数据为基于UVM的验证平台编写的脚本生成的； 将所述测试数据输出至目标光栅模块，以通过所述目标光栅模块生成第一图片； 将所述测试数据发送至参考GPU，以通过所述参考GPU生成第二图片，所述参考GPU包括合格的光栅模块； 将所述第一图片的像素属性与所述第二图片的像素属性进行对比，所述像素属性包括颜色； 若所述第一图片的全部像素属性与所述第二图片的对应的像素属性均一致，则确定所述目标光栅模块的功能验证结果为合格；若所述第一图片存在部分像素的像素属性与所述第二图片对应的像素的像素属性不相同，则确定所述目标光栅模块的功能验证结果为不合格； 所述生成测试数据，包括： 随机生成寄存器配置数据、原始图元类型数据、原始图元类型的顶点坐标数据以及原始图元类型的属性数据，并保存至日志文件中； 所述将所述测试数据发送至参考GPU，以通过所述参考GPU生成第二图片，包括： 对所述日志文件进行解析处理，根据所述寄存器配置数据、所述原始图元类型数据、所述原始图元类型的顶点坐标数据以及所述原始图元类型的属性数据生成目标程序，并将所述目标程序发送至所述参考GPU； 获取所述第二图片，所述第二图片是所述参考GPU运行所述目标程序渲染生成的。

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