买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉中国科学院西安光学精密机械研究所申请的专利一种快照式宽带全斯托克斯矢量测量仪及测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119124358B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411621633.4，技术领域涉及：G01J4/00；该发明授权一种快照式宽带全斯托克斯矢量测量仪及测量方法是由李思奇;赵家祺;王国玺;张文富设计研发完成，并于2024-11-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种快照式宽带全斯托克斯矢量测量仪及测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种快照式宽带全斯托克斯矢量测量仪及测量方法，属于微纳光学领域，包括波片阵列、线偏振片、光强探测器和数据处理模块；所述光强探测器上安装所述线偏振片，所述线偏振片上安装所述波片阵列，所述波片阵列的尺寸不大于所述线偏振片的尺寸；所述光强探测器和数据处理模块电连接。波片阵列完全设置在线偏振片上，减小了使用时的对齐精度，此外，通过波片阵列使得感光区域的各个小区域对应捕获不同偏振调制下的光强值，可以实现在单次测量下对偏振态进行计算反演，保证了测量结果的实时性。同时，结合亚波长介质线栅的宽带特性，克服了现有全斯托克斯矢量测量技术中工作带宽受限的缺陷。

本发明授权一种快照式宽带全斯托克斯矢量测量仪及测量方法在权利要求书中公布了：1.一种快照式宽带全斯托克斯矢量测量方法，其特征在于，基于所述快照式宽带全斯托克斯矢量测量仪，具体包括以下步骤： 步骤一，待测光入射到所述快照式宽带全斯托克斯矢量测量仪的波片阵列（1）； 步骤二，光强探测器（3）将采集光强值传输至数据处理模块，数据处理模块采用下述公式计算待测光斯托克斯矢量； 其中： 为第个基本单元对应的光强探测器（3）感光区域的探测的光强值，Wm²； 为第个基本单元的亚波长介质线栅的方位角，rad； 为每一个亚波长介质线栅的相位延迟量，rad； 所述方位角和相位延迟量的求解方法如下： S1，不同基本单元的双层亚波长光栅将待测光分解为一组椭圆偏振态； 所述椭圆偏振态在庞加莱球上不共面； S2，根据椭圆偏振态在庞加莱球上的坐标值，通过戴维森公式或交叉乘积法计算由椭圆偏振态形成的多面体的体积； S3，采用粒子群算法在参数空间内进行全局遍历与优化，得到最大化体积判别函数； 所述参数空间的方位角为和相位延迟量为； S4，通过对与的多次迭代和全局搜索，得到满足最大化体积判别函数的最优与最优； 所述快照式宽带全斯托克斯矢量测量仪，包括波片阵列（1）、线偏振片（2）、光强探测器（3）和数据处理模块（4）； 所述光强探测器（3）上安装所述线偏振片（2），所述线偏振片（2）上安装所述波片阵列（1），所述波片阵列（1）的尺寸不大于所述线偏振片（2）的尺寸；所述线偏振片（2）的透振方向唯一；所述光强探测器（3）和数据处理模块（4）电连接； 所述波片阵列（1）包含个基本单元，每个所述基本单元包括介质基底和设置在所述介质基底上的亚波长介质线栅；每个亚波长介质线栅的相位延迟量恒定，每个亚波长介质线栅的相对于线偏振片（2）透振方向的方位角不同，其中，，为正整数集； 所述光强探测器（3）的感光区域与所述线偏振片（2）的距离满足下述公式： 其中： 为波片阵列（1）的基本单元的边长长度，μm； 为光强探测器（3）的工作波长，nm。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院西安光学精密机械研究所，其通讯地址为：710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。