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龙图腾网获悉苏州集泰信息科技有限公司申请的专利面向元器件批量测试的探针装置、测试装置及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119086995B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411167722.6，技术领域涉及：G01R1/073；该发明授权面向元器件批量测试的探针装置、测试装置及测试方法是由胡晓星;陶美吉;朱小卫设计研发完成，并于2024-08-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本面向元器件批量测试的探针装置、测试装置及测试方法在说明书摘要公布了：本发明涉及电子元器件测试技术领域，尤其是指面向元器件批量测试的探针装置、测试装置及测试方法，其中，所述探针装置包括PCB电路板和多个金属探针，所述PCB电路板上设有呈矩阵阵列分布的多个测试单元，每个金属探针的一端连接所述测试单元，其另一端连接被测元器件；其中，所述测试单元包括LED驱动单元、熔断器和直流电源，所述LED驱动单元的输出端通过所述金属探针连接被测元器件，其输入端通过所述熔断器连接所述直流电源的输出端。本发明能够同时批量检测被测电子元件，提高测试效率。

本发明授权面向元器件批量测试的探针装置、测试装置及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种元器件批量测试装置，其特征在于，包括：面向元器件批量测试的探针装置和信号收发器，所述面向元器件批量测试的探针装置包括PCB电路板和多个金属探针，所述PCB电路板上设有呈矩阵阵列分布的多个测试单元；每个金属探针的一端连接所述测试单元，其另一端连接被测元器件； 其中，所述测试单元包括LED驱动单元、熔断器和直流电源，所述LED驱动单元的输出端通过所述金属探针连接被测元器件，其输入端通过所述熔断器连接所述直流电源的输出端； 所述LED驱动单元包括第一开关、第一支路、第二支路和发光二极管，所述发光二极管设在所述第一支路上，所述第二支路连接被测元器件，所述第一开关分别连接所述第一支路和第二支路，用于控制所述第一支路与所述直流电源之间的回路通断； 所述第一开关为PMOS管Q1，所述PMOS管Q1的S极连接于所述直流电源的输出接口；所述第一支路上还设有第一电阻R1，所述PMOS管Q1的D极连接所述第一电阻R1的第一端，所述第一电阻R1的第二端连接所述发光二极管的正极，所述发光二极管的负极连接所述直流电源的GND端口；所述第二支路上设有第二电阻R2，所述PMOS管Q1的G极连接所述第二电阻R2的第一端，所述第二电阻R2的第二端连接被测元器件的第一端，所述被测元器件的第二端连接所述直流电源的GND端口；所述LED驱动单元还包括分压电阻R3，所述PMOS管Q1的S极和所述分压电阻R3的第一端均连接于直流电源的输出接口，所述分压电阻R3的第二端引出两条支路，分别连接所述PMOS管Q1的G极和所述第二电阻R2的第一端； 所述信号收发器的信号发射端连接所述PCB电路板，所述信号收发器的信号接收端连接所述金属探针； 其中，所述信号收发器的信号发射端向所述PCB电路板发送测试信号，所述测试信号由所述PCB电路板传递给所述金属探针，所述金属探针将所述测试信号传递给被测元器件；所述信号收发器的信号接收端通过所述金属探针形成电流信号回路。

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