买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉千予半导体材料(江苏)有限公司申请的专利一种芯片测试分选装置的校准测试系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119008494B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411132146.1，技术领域涉及：H01L21/68；该发明授权一种芯片测试分选装置的校准测试系统是由陈凤林;黄芳玲;陈叁洋设计研发完成，并于2024-08-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片测试分选装置的校准测试系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种芯片测试分选装置的校准测试系统，涉及半导体分选技术领域，所述系统包括：实时路径采集模块，用于部署实时位置传感器，获取实时路径位置信息；速度信息提取模块，用于交互装置动作控制端，获取路径速度信息；定位比对校准模块，用于基于路径速度信息获取理想路径位置信息，与实时路径位置信息进行比对校准；图像采集校准模块，用于获取标准芯片，用校准后的装置采集图像，获取标定芯片图像，进行图像采集校准；分选判别优化模块，用于获取典型芯片系列，进行典型检测测试，基于结果优化分选判别，优化后的装置用于芯片测试分选。进而达成提高校准效率，提供自适应校准周期，提高分选质量的技术效果。

本发明授权一种芯片测试分选装置的校准测试系统在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试分选装置的校准测试系统，其特征在于，所述系统包括： 实时路径采集模块，所述实时路径采集模块用于部署实时位置传感器，并基于预设的移动策略运行芯片测试分选装置，获取实时路径位置信息； 速度信息提取模块，所述速度信息提取模块用于交互所述芯片测试分选装置的动作控制端，获取所述实时路径位置信息对应的路径速度信息，其中，所述路径速度信息包括关联有位置标记的速度矢量信息； 定位比对校准模块，所述定位比对校准模块用于基于所述路径速度信息获取理想路径位置信息，并与所述实时路径位置信息进行定位比对校准； 图像采集校准模块，所述图像采集校准模块用于获取标准芯片，以定位比对校准后的所述芯片测试分选装置进行图像采集，获取标定芯片图像，并基于所述标定芯片图像进行图像采集校准； 分选判别优化模块，所述分选判别优化模块用于获取典型芯片系列，使用图像采集校准后的所述芯片测试分选装置进行典型检测测试，并基于典型检测测试结果，进行分选判别优化，判别优化后的所述芯片测试分选装置用于芯片测试分选。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人千予半导体材料(江苏)有限公司，其通讯地址为：226000 江苏省南通市启东生命健康科技园金科路899号7幢206室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。