赛诺威盛科技(北京)股份有限公司王伟获国家专利权
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龙图腾网获悉赛诺威盛科技(北京)股份有限公司申请的专利用于CT探测器晶体模组与后准直器的对位装置及对位方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119055260B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202410945896.4,技术领域涉及:A61B6/03;该发明授权用于CT探测器晶体模组与后准直器的对位装置及对位方法是由王伟设计研发完成,并于2024-07-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于CT探测器晶体模组与后准直器的对位装置及对位方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种用于CT探测器晶体模组与后准直器的对位装置及对位方法,包括:第一对位结构,第一对位结构上设置有对位槽,对位槽的底面设置为第一水平基准面,对位槽的内侧设置第一竖直基准面和第二竖直基准面;锁止组件,设于第一对位结构上;第一调节固定结构,设于第一对位结构上;第二对位结构,第二对位结构的下端设置有第二水平基准面;第二调节固定结构,设于第二对位结构上;第三调节固定结构,设于第一对位结构上;压合组件,压合组件包括下压端,下压端位于第一水平基准面的上方。本发明解决了相关技术中难以保证后准直器与CT探测器晶体角度和位置关系,导致后准直器栅格偏离对应像素的问题。
本发明授权用于CT探测器晶体模组与后准直器的对位装置及对位方法在权利要求书中公布了:1.一种用于CT探测器晶体模组与后准直器的对位装置,其特征在于,包括: 第一对位结构,所述第一对位结构上设置有对位槽,所述对位槽用于容纳后准直器和探测器晶体,所述对位槽的底面设置为第一水平基准面,所述对位槽的内侧设置有相互垂直的第一竖直基准面和第二竖直基准面; 锁止组件,设于所述第一对位结构上,用于将所述后准直器压紧贴合在所述第一竖直基准面和所述第二竖直基准面上; 第一调节固定结构,设于所述第一对位结构上,用于调节探测器晶体在水平方向上相对于后准直器的位置; 第二对位结构,所述第二对位结构的下端设置有第二水平基准面,所述第二水平基准面位于所述第一水平基准面的上方,所述第二对位结构用于安装探测器晶体安装块,所述第二水平基准面用于与探测器晶体安装块的上表面贴合; 第二调节固定结构,设于所述第二对位结构上,用于调节所述探测器晶体的上表面和所述第二水平基准面之间的水平度; 第三调节固定结构,设于所述第一对位结构上,用于调节探测器晶体安装块在水平方向上相对于探测器晶体的位置; 压合组件,所述压合组件包括下压端,所述下压端位于所述第一水平基准面的上方,所述下压端设置成能够向准直器、探测器晶体和第二对位结构施加下压力; 注胶口,设于所述第一对位结构上并与所述对位槽连通。
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