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龙图腾网获悉中国电子科技集团公司第五十八研究所申请的专利一种反熔丝FPGA内部逻辑片上测试电路获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115542138B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211253638.7，技术领域涉及：G01R31/3185；该发明授权一种反熔丝FPGA内部逻辑片上测试电路是由蔡永涛;曹常锐;王雪萍;王艳芳;曹靓设计研发完成，并于2022-10-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种反熔丝FPGA内部逻辑片上测试电路在说明书摘要公布了：本发明公开一种反熔丝FPGA内部逻辑片上测试电路，属于半导体集成电路技领域。在芯片设计时，将芯片内部时序逻辑单元和组合逻辑单元进行整合并布局，内部逻辑片上测试电路主体为“时序逻辑单元1”+“n‑2级组合逻辑单元串联”+“时序逻辑单元2”。在芯片设计阶段和测试阶段均可评估电路及内部逻辑单元的速度性能。上述的“n”可根据实际的电路规模大小，灵活配置，从而满足不同规模的反熔丝FPGA芯片内部逻辑速度性能的评估需求。本发明提供的反熔丝FPGA内部逻辑片上测试电路能够准确地衡量在设计阶段，电路内部逻辑单元的速度性能。在反熔丝FPGA在用户编程后，衡量内部时序逻辑单元、组合逻辑单元速度性能以及反熔丝编程后电阻差异对电路速度带来的影响。

本发明授权一种反熔丝FPGA内部逻辑片上测试电路在权利要求书中公布了：1.一种反熔丝FPGA内部逻辑片上测试电路，其特征在于，包括一个TDI端口、一个TDO端口、2级时序逻辑单元、n-2级组合逻辑单元和3n个反熔丝单元，其中所述2级时序逻辑单元为第一级时序逻辑单元和第二级时序逻辑单元； 所述TDI端口连接所述第一级时序逻辑单元的输入端，所述第一级时序逻辑单元的输出端连接到第一级组合逻辑单元的输入端，n-2级组合逻辑单元串联后，最后一级组合逻辑单元的输出端连接至第二级时序逻辑单元的输入端；所述第二级时序逻辑单元的输出端连接至所述TDO端口； 在任意逻辑单元之后存在3个不同类型的反熔丝单元； 所述时序逻辑单元包括与非门NAND1和NAND2、或非门NOR1和NOR2、传输门T1和T2、反相器INV1~INV3；其中， 所述与非门NAND1的输入端分别连接所述TDI端口和使能信号OE，输出连接节点A1；所述或非门NOR1的输入端分别连接内部逻辑片上测试电路的复位信号RST和节点A1，输出连接节点A3； 所述或非门NOR2的输入端分别连接节点A3和节点A4，输出连接节点A5；所述反相器INV2的输入端连接节点A5，输出连接节点A2；所述传输门T1输入端为节点A2，输出端连接节点A1；所述与非门NAND2的输入端连接节点A2和内部逻辑片上测试电路的复位信号RST，输出端连接节点A4； 所述传输门T2的输入端连接节点A5，输出端连接节点A6；所述反相器INV1的输入端连接节点A6，输出端连接输出端OUT；所述反相器INV3的输入端连接时序逻辑单元的输出端OUT，输出端连接节点A6。

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