华中科技大学李中伟获国家专利权
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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利耦合灰度-相位信息的化铣胶膜刻型三维测量方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115546404B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211201812.3,技术领域涉及:G06T17/00;该发明授权耦合灰度-相位信息的化铣胶膜刻型三维测量方法及系统是由李中伟;张攀;钟凯;汪勇设计研发完成,并于2022-09-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本耦合灰度-相位信息的化铣胶膜刻型三维测量方法及系统在说明书摘要公布了:本发明公开了耦合灰度‑相位信息的化铣胶膜刻型三维测量方法,属于三维测量领域。先获取左右相机的均匀光照灰度图、光栅图作为初始数据,获取校正后的左相机灰度图、左右相机相位图、右相机灰度图到左相机灰度图上的映射灰度图;然后以左相机灰度图为基准,基于灰度梯度实现初步图像分割,提取初始轮廓;再构建外部能量场、梯度矢量场,结合内部能量场构建整体能量函数,获取亚像素精度轮廓;最后基于相位信息实现轮廓亚像素点立体匹配与三维重建。相比传统被动双目测量方法,不仅可以实现油污、划痕等干扰下的刻型图案中心线的稳定提取,还可克服灰度变化不均匀、左右相机视角不一致等因素导致中心线提取不精准的难题。
本发明授权耦合灰度-相位信息的化铣胶膜刻型三维测量方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种耦合灰度-相位信息的化铣胶膜刻型三维测量方法,其特征在于,包括: S1,先获取左右相机的均匀光照灰度图、光栅灰度图作为初始数据,然后基于畸变校正与极线校正获取校正后的左右相机灰度图、左右相机相位图,再基于相位匹配将右相机灰度图映射到左相机; S2,以左相机灰度图为基准,先基于灰度梯度实现初步图像分割获取化铣刻型图案初始区域,然后进行图像膨胀去除空洞,再基于连通域进行筛选去除不连续、噪声区域,最后提取连通域骨架作为初始轮廓; S3,基于左相机灰度图、左相机相位图、右相机灰度图在左相机上的映射图构建外部能量场EGP ex,具体为: EGP ex=ωleftEGP exl+ωrightEGP exr 其中,ωleft与ωright分别为EGP exl与EGP exr的权重,EGP exl表示左相机灰度图上的轮廓曲线外部能量,EGP exr左相机灰度图轮廓对应的右相机灰度图外部能量,所述左相机灰度图上的轮廓曲线外部能量具体为: EGP exl=∫εleftXsds==∫-[ωlεl+ωeεe+ωtεt+ωpεp]ds 所述左相机灰度图轮廓对应的右相机灰度图外部能量具体为: EGP exr=∫εrightXsds=∫-[ωlεl+ωeεe+ωtεt]ds 其中,Xs表示轮廓二维坐标点,s为归一化弧长,ωl、ωe、ωt、ωp分别为εl、εe、εt、εp对应的权重系数,εl表示图像灰度信息,εt表示灰度图像终点信息,εe表示图像二阶灰度梯度幅值信息,εp表示二阶相位梯度信息; 再基于外部能量场构建梯度矢量场,结合内部能量场构建整体能量函数,迭代求解能量最小化,获取亚像素精度轮廓; S4,基于相位信息实现轮廓亚像素点立体匹配与三维重建。
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