中国科学院上海技术物理研究所何志平获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院上海技术物理研究所申请的专利一种激光收发共孔径望远镜后向杂散光检测装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115541199B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211187690.7,技术领域涉及:G01M11/02;该发明授权一种激光收发共孔径望远镜后向杂散光检测装置是由何志平;谭永健;吴金才;杨秋杰设计研发完成,并于2022-09-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种激光收发共孔径望远镜后向杂散光检测装置在说明书摘要公布了:本发明公开了一种激光收发共孔径望远镜后向杂散光检测装置,该装置由激光光源、偏振分束器、半波片、四分之一波片、光陷阱、吸光锥、光耦合器、单光子探测器组成。激光光源照射到望远镜产生的后向杂散光经偏振分束器透射,进入单光子探测器中,实现杂散光的检测。通过偏振分束器实现激光光源光路与杂光光路的分离,以及杂光光路与本地光源衰减光光路的合并。在本地光源衰减光光路中放置或卸载光陷阱实现不同检测任务或检测需求的切换。通过激光光源光路中的快反镜改变检测视场,并通过吸光锥实现装置自身杂光的抑制。该装置检测精度高,能进行实时动态检测,可以应用到激光收发共孔径望远镜后向散射杂散光抑制设计的检测与评估。
本发明授权一种激光收发共孔径望远镜后向杂散光检测装置在权利要求书中公布了:1.一种激光收发共孔径望远镜后向杂散光检测装置,包括待测望远镜1、四分之一波片2、偏振分束器、吸光锥、半波片7、快反镜8、激光光源10、光陷阱11、光耦合器12及单光子探测器13,其特征在于: 所述的激光光源10产生的激光由第三偏振分束器9分两路正交的偏振光,垂直偏振光经快反镜8反射后,由半波片7调制为水平偏振光,并经第一偏振分束器3反射后,由四分之一波片2调制产生测试光源,测试光源进入待测望远镜1后,产生后向杂散光,后向杂散光经过四分之一波片2后,由第一偏振分束器3及第二偏振分束器5透射,透射光与第二偏振分束器5反射的水平偏振光由光耦合器12耦合进单光子探测器13中;光陷阱11放置到光路中时,吸收第三偏振分束器9反射的偏振光,单光子探测器13探测待测望远镜1产生的后向散射杂光;光陷阱11从光路移除时,单光子探测器13探测待测望远镜1产生的后向散射杂光及本地光,可对干涉型望远镜杂光效果进行评估;通过调整快反镜8测量不同视场杂散光;所述的四分之一波片2光轴旋转到不用角度时,检测杂散光退偏情况;第一吸光锥4和第二吸光锥6分别吸收第一偏振分束器3和第二偏振分束器5透射杂光; 所述的第一偏振分束器3、第二吸光锥6及第三偏振分束器9工作波长与激光光源匹配; 光陷阱与吸光锥宽高大于等于第一偏振分束器3、第二吸光锥6及第三偏振分束器9的宽高; 所述快反镜8动态范围与待测望远镜1视场匹配; 所述光耦合器12波长与激光光源10波长匹配,耦合效率高于50%。
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