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龙图腾网获悉北京计算机技术及应用研究所;北京航天爱威电子技术有限公司申请的专利一种超高频RFID系统测速方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115409143B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211034002.3，技术领域涉及：G06K19/077；该发明授权一种超高频RFID系统测速方法是由邵壮;贾知浩;李杨;张丹设计研发完成，并于2022-08-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种超高频RFID系统测速方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种超高频RFID系统测速方法，属于射频识别领域。本发明将RFID识读设备天线部署在待监测通道一旁或正上方，并使其正对着待监测通道；利用超高频RFID读写器采集待测速物体上附着的RFID标签的标签数据和相位信息，并将其与采集到数据时的时间戳信息一同记录起来；将采集到的标签数据信息按标签进行整理，得到每个标签的相位与时间戳信息；对采集到的RFID标签的标签数据及相位信息进行处理，求取附着RFID标签的物体的运动速度。本发明提出的方法具有运算量小、实时性高、便于整合到已有超高频RFID系统的特点，在机动车电子标识、智能仓储等有测速需求的场合,具有很高的实用价值。

本发明授权一种超高频RFID系统测速方法在权利要求书中公布了：1.一种超高频RFID系统测速方法，其特征在于，该方法包括如下步骤： S1、设备部署步骤：将RFID识读设备天线部署在待监测通道一旁或正上方并使其正对着待监测通道； S2、数据采集步骤：在监测过程中RFID识读设备对其识读范围内的RFID标签进行识别并记录标签信息、标签信号的相位及每一次识别的时间戳即数据组合[EPCn,θn,tn]，其中n表示数据组合按照获取先后顺序排序的序号； S3、数据整理步骤：对特定时间段内获取到的数据组合按照EPC编码进行整理，得到该时间段内处于RFID识读设备识读范围内的各个标签的相位及时间戳组合[θi,ti]； S4、速度计算步骤：对采集到的RFID标签的相位及时间戳信息进行处理，求取附着RFID标签的物体的运动速度； 其中， 所述步骤S4具体包括：边沿检测步骤、运算条件判断步骤和运算步骤； 所述边沿检测步骤包括：在RFID标签首次进入识读范围开始，如果θi-θi-1Th，则判定RFID标签响应信号出现一个突变的上升沿；如果θi-θi-1＜-Th，则判定RFID标签响应信号相位出现一个突变的下降沿，对检测到的上升沿计数为R，下降沿计数为N； 所述运算条件判断步骤包括：判断获取到的上升沿下降沿情况是否满足运算条件，条件1为：捕获到了一定数量的上升沿和首个下降沿，即R1,N＝1；条件2为：捕获到了最后一个上升沿和一定数量的下降沿，即R＝1,N1；若满足条件1或条件2中的一个，则进行一次运算；若条件1与条件2都满足则进行两次运算；若两个条件都不满足则无法进行运算，本次计算失败，继续采集一段时间数据再进行判断； 所述运算步骤包括：对满足运算条件的数据，按照下式进行速度计算： 式中R为检测到上升沿个数，N为检测到下降沿个数，λ为超高频RFID信号的波长，h为RFID识读设备天线到通道的距离，t1为检测到的首个上升沿的两点的时间戳的平均值，t2最后检测到的上升沿两点时间戳的平均值，t3为首个检测到的下降沿两点的时间戳平均值，t4为最后检测到的下降沿两点时间戳的平均值。

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