中国科学院沈阳自动化研究所孙兰香获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院沈阳自动化研究所申请的专利一种校正水分影响的激光诱导击穿光谱标准化方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115524322B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211136712.7，技术领域涉及：G01N21/71；该发明授权一种校正水分影响的激光诱导击穿光谱标准化方法是由孙兰香;高源;于海斌;辛勇;尚栋设计研发完成，并于2022-09-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种校正水分影响的激光诱导击穿光谱标准化方法在说明书摘要公布了：本发明涉及光谱标准化领域，具体是一种校正水分影响的激光诱导击穿光谱标准化方法。用于解决待测物质中水分高低对光谱强弱以及定量分析结果准确性与稳定性的影响问题。具体步骤为：1计算非标准光谱矩阵每一维谱线和标准光谱矩阵每一维谱线之间的相关性绝对值|θi，j|大小；2根据|θi，j|的大小选取m维非标准光谱谱线对标准光谱谱线进行拟合；3提取每一维参与拟合的谱线前的系数，建成变换矩阵；4对验证集中标准化后的光谱进行定量分析，通过验证集的RMSE来确定建模过程中最优的建模样本数、参与拟合的谱线数以及主成分数。
本发明授权一种校正水分影响的激光诱导击穿光谱标准化方法在权利要求书中公布了：1.一种校正水分影响的激光诱导击穿光谱标准化方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1、对不同水分含量区间的待测物质样本，多次采集激光诱导击穿光谱的原始数据，进行归一化处理，得到多维谱线样本数据集； 步骤2、建立待测物质样本的不同水分含量区间与对应的光谱均值之间的关系，得到标准水分含量区间； 步骤3、对于同一样本多次测量的谱线，将标准水分含量区间内的光谱均值化并作为该样本的标准光谱，将标准水分含量区间之外的光谱作为该样本的非标准光谱； 步骤4、将多维谱线样本数据集划分为训练集、验证集和测试集；所述训练集、验证集和测试集中均包括样本的标准光谱和非标准光谱； 步骤5、从训练集中挑选部分待测物质样本，以每个样本的非标准光谱数据作为输入，标准光谱数据作为输出，采用回归方法进行回归拟合，建立光谱标准化模型；根据验证集的浓度定量分析结果优化模型参数，得到优化后的光谱标准化模型； 步骤6、将测试集中任意待测物质样本的非标准光谱作为标准化模型的输入，输入优化后的光谱标准化模型中，得到标准化后的光谱。
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