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龙图腾网获悉中国科学院力学研究所申请的专利一种铂膜传感器的批量质量检测装置及检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115541059B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211122343.6，技术领域涉及：G01K15/00；该发明授权一种铂膜传感器的批量质量检测装置及检测方法是由吴松;喻江设计研发完成，并于2022-09-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种铂膜传感器的批量质量检测装置及检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种铂膜传感器的批量质量检测装置检测方法，包括：传感器批量送料单元，用于向老化检测仪依次输入定量的铂膜传感器；老化检测仪，用于依次与每个铂膜传感器连接，并向铂膜传感器定时通入恒定电流以模拟铂膜传感器的使用过程，老化检测仪通过分析铂膜传感器的模拟使用过程中的特征参数来筛选合格的铂膜传感器。本发明检测准确，检测效率高。

本发明授权一种铂膜传感器的批量质量检测装置及检测方法在权利要求书中公布了：1.一种铂膜传感器的批量质量检测装置，其特征在于，包括： 传感器批量送料单元（1），用于向老化检测仪（2）批量输入定量的铂膜传感器，每个铂膜传感器与所述老化检测仪（2）的接触作用力相同； 老化检测仪（2），用于依次与每个所述铂膜传感器连接，并向所述铂膜传感器定时通入恒定电流以模拟铂膜传感器的使用过程，所述老化检测仪（2）通过分析所述铂膜传感器的模拟使用过程中的特征参数来筛选合格的所述铂膜传感器； 所述传感器批量送料单元（1）包括正对所述老化检测仪（2）的检测面设置的插料组件（11），以及设置在所述插料组件（11）侧面的推动组件（12），所述推动组件（12）推动所述插料组件（11）朝着所述老化检测仪（2）线性移动，以使得所述插料组件（11）上的传感器插入至所述老化检测仪（2）的插槽（21）内进行质量检测，所述推动组件（12）拉动所述插料组件（11）远离所述老化检测仪（2）线性移动，以将所述插料组件（11）上的传感器从所述老化检测仪（2）的插槽（21）内抽出； 所述插料组件（11）包括多个传感器集装件（111），以及设置在相邻两个所述传感器集装件（111）之间的连接横梁（112）活动连接，所述传感器集装件（111）能够绕连接横梁（112）旋转90°，且所述推动组件（12）的工作轴固定安装在所述连接横梁（112）上； 所述推动组件（12）推动所述插料组件（11）将传感器插入至所述老化检测仪（2）的插槽（21）时，所述传感器集装件（111）内安插的传感器保持水平状态，且所述推动组件（12）拉动所述插料组件（11）复位时，所述传感器集装件（111）转动90°，且所述传感器集装件（111）内安插的传感器转换至竖直状态； 所述传感器批量送料单元（1）设置在工作台（3）上，所述工作台（3）包括低阶台面（31）和高阶台面（32），所述传感器集装件（111）的底部沿着所述低阶台面（31）线性移动，所述传感器集装件（111）的底部受所述高阶台面（32）的抵挡作用发生旋转； 其中，所述低阶台面（31）与高阶台面（32）之间的高度差等于所述连接横梁（112）的安装位置与所述传感器集装件（111）之间的高度差。

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