西北工业大学汪勇获国家专利权
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龙图腾网获悉西北工业大学申请的专利一种基于过扫描的直线阵低旁瓣波束优化方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115575958B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-18发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210656854.X,技术领域涉及:G01S15/02;该发明授权一种基于过扫描的直线阵低旁瓣波束优化方法是由汪勇;李守赐;杨益新设计研发完成,并于2022-06-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于过扫描的直线阵低旁瓣波束优化方法在说明书摘要公布了:本发明涉及一种基于过扫描的直线阵低旁瓣波束优化方法,通过在指向端射方向的加权向量中引入一个额外的延迟可以获得较低的旁瓣。本发明同时给出了窄带和宽带两种情况下的过扫描波束优化方法。对于窄带情况,将旁瓣级与过扫描量的关系进行多项式拟合,可以得到过扫描量‑旁瓣级关系曲线,从该曲线可以很方便的确定所需旁瓣级对应的过扫描量,再进行波束形成即可获得与二阶锥优化方法性能相近的低旁瓣波束。对于宽带情况,可以在窄带情况的基础上获得过扫描量‑间距波长比dλ的拟合多项式,并将各对应的过扫描量带入到波束形成过程中即可得到低旁瓣的波束。相比基于二阶锥规划的波束优化方法,本发明方法过程更简单,计算更方便。
本发明授权一种基于过扫描的直线阵低旁瓣波束优化方法在权利要求书中公布了:1.一种基于过扫描的直线阵低旁瓣波束优化方法,其特征在于步骤如下: 步骤1:给定过扫描量,计算不同过扫描量下的波束响应: 其中:wovs为过扫描方法的加权向量,上标H表示复共轭转置,Pθ为直线阵阵列流形,Pθ=[pθ1pθ2…pθi…pθD],D为观察视区内水平角划分的个数,pθi=[1,expjkdcosθi,...,expjkM-1dcosθi]T; 所述 所述povs=[1,expjkdcosθ0+σ,...,expjkM-1dcosθ0+σ]T 其中:k为波数,d为阵元间距,θ0为端射方向角,σ为过扫描量,M为阵元个数,上标T表示转置; Rn为噪声协方差矩阵: 第号元素为: 其中:为第m号与第号阵元之间的距离; 重复步骤1,当波束主瓣不在端射方向时的过扫描量为极限过扫描量: γ=min{σ|Bσθ0dB≠0} 其中:Bσθ0dB为过扫描量为σ时端射方向波束响应的归一化分贝表示; 步骤2、计算不同过扫描量下的旁瓣级: 在确定的极限过扫描量范围内,计算出不同过扫描量对应的旁瓣级: SLσ=max{Bσθ|θ∈[-180°,θ0-θML2]∪[θ0+θML2,180°]},σ∈[0,γ] 其中:θML为主瓣宽度,θ0为端射方向; 步骤3、给出窄带和宽带下的拟合曲线: 1、窄带情况下: 根据步骤2得到的过扫描量与旁瓣级的关系σ-SL,确定过扫描量的拟合范围: Γ=[0,σS] 其中:σS为最小旁瓣级对应的过扫描量; 在过扫描量拟合范围内对σ-SL关系进行拟合: 其中:x代表旁瓣级单位:dB,N为拟合多项式的最高阶数,an为第n阶多项式的系数; 2、宽带条件下 给定期望旁瓣级,按照前述步骤,得到在某一dλ值下指定旁瓣级对应的过扫描量,进而利用一个多项式对过扫描量与dλ的关系进行拟合: 其中:y代表dλ,P为拟合多项式的最高阶数,bp为第p阶多项式的系数; 步骤4、绘制波束图并计算波束性能: 1、窄带情况下 根据所需要的旁瓣级确定过扫描量,将所得到的过扫描量代入步骤1的波束形成过程中,得到所需旁瓣级约束下的波束图,并计算所得波束图的指向性指数和白噪声增益: 其中:x0为所需的旁瓣级,σ0为与之对应的过扫描量; 指向性指数和白噪声增益计算方法如下: 其中:p0=[1,expjkdcosθ0,...,expjkM-1dcosθ0]T为直线阵端射方向响应向量,wovs为将σ0代入到步骤1中所求得过扫描方法的加权向量,Rn为噪声协方差矩阵; 2、宽带情况下 将步骤3中得到的指定期望旁瓣级下,不同dλ值对应的过扫描量带入到步骤1的波束形成中,获得不同dλ值下的波束图,并计算不同dλ值下的旁瓣级、指向性指数、白噪声增益。
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