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龙图腾网获悉中国电子科技集团公司第十研究所申请的专利相控阵天线阵元通道相位偏转特性测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114994420B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210593461.9，技术领域涉及：G01R29/10；该发明授权相控阵天线阵元通道相位偏转特性测试方法是由杜丹;王文政;扈景召;官劲;胡阳设计研发完成，并于2022-05-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本相控阵天线阵元通道相位偏转特性测试方法在说明书摘要公布了：本发明提出的相控阵天线阵元通道相位偏转特性测试方法，简单可靠、耗费硬件资源小、易于实现。本发明通过下述技术方案予以实现：步骤1、测试准备：首先进行空间位置定标；步骤2、相位中心测试：将天线测试控制系统产生的发射触发信号通过光纤送至信号源，通过暗室实验转台的方式找到待测阵元天线的相位中心，形成上、下行波束；步骤3、偏转相位特性测试：利用三维调整机构暗室实验转台各轴，分别将所有接收通道的接收数据送至测试控制系统中的数据采集单元，测量出阵元天线的实际相位中心及相位偏转特性，找到阵元天线的相位偏转特性，按偏转的方位角与俯仰角绘制出阵元天线相位偏转特性图，以此为基础修正相控阵的天线阵元的通道相位。

本发明授权相控阵天线阵元通道相位偏转特性测试方法在权利要求书中公布了：1.一种相控阵天线阵元通道相位偏转特性测试方法，其特征在于包括如下步骤： 步骤1、测试准备：在微波暗室中，将定位设备、射频设备、控制设备、标校天线与待测阵元天线都装在暗室实验转台上，在相控阵天线系统开始相位中心测试前，首先进行空间位置定标，将激光跟踪仪架设于暗室地面的三脚架上方，将靶标球分别安装在两端暗室实验转台顶部的极化轴上方，将两者空间坐标进行定标； 步骤2、相位中心测试：对相控阵天线系统内各设备的空间位置坐标信息进行定标后进行相位中心测试，给出相控阵天线系统设计的基础设计数据，将天线测试控制系统产生的发射触发信号通过光纤送至信号源，信号源按照时序要求输出不同频点的连续波射频信号，通过暗室实验转台的方式找到待测阵元天线的相位中心，利用测量的阵元相位中心点确定相控阵天线的阵元坐标值，进而形成上、下行波束，根据暗室实验转台实际转过的角度，得到被试天线的波束指向精度； 步骤3、偏转相位特性测试：通过软件设置暗室实验转台的偏转角度，以阵元天线相位中心O为原点的坐标系，旋转阵元天线，利用三维调整机构暗室实验转台各轴，使被测试天线的相位中心O与旋转阵元天线中心点O’对准，分别将所有接收通道的接收数据送至测试控制系统中的数据采集单元，采集阵元天线相位偏转数据，然后采用暗室实验转台、高精度架以及光学测量设备相结合的方式测量出阵元天线的实际相位中心及相位偏转特性，并进行阵元天线偏转相位特性测试找到阵元天线的相位偏转特性，根据阵元天线偏转角状态的相位特性数据，按偏转的方位角与俯仰角绘制出阵元天线相位偏转特性图，以此为基础修正相控阵的天线阵元的通道相位。

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