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龙图腾网获悉信利(仁寿)高端显示科技有限公司申请的专利一种工艺缺陷分析方法及接触点位套图制作方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114913163B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210583904.6，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种工艺缺陷分析方法及接触点位套图制作方法是由张威;李灵灵;陈海雷设计研发完成，并于2022-05-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种工艺缺陷分析方法及接触点位套图制作方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种工艺缺陷分析方法及接触点位套图制作方法，分析方法包括制作液晶面板生产工艺的设备接触点位套图卡纸；量测异常点位，制作液晶面板生产工艺的异常CAD图；将异常CAD图与设备接触点位套图卡纸进行比照，以确定异常设备及异常单元；根据坐标系制作异常CAD图。实施本发明，通过将异常CAD图与设备接触点位套图卡纸进行比照，可以快速确定发生异常的设备及单元，解决了现有液晶面板生产工艺中，在发生异常时，需要重新梳理异常发生设备进行缺陷分析，浪费人力且不容易查找，造成生产延误或异常事故高发的问题。

本发明授权一种工艺缺陷分析方法及接触点位套图制作方法在权利要求书中公布了：1.一种工艺缺陷分析方法，用以对液晶面板产品缺陷进行分析，其特征在于，包括： 步骤100、制作液晶面板生产工艺的设备接触点位套图卡纸； 步骤200、量测异常点位，制作液晶面板生产工艺的异常CAD图； 步骤300、将所述异常CAD图与所述设备接触点位套图卡纸进行比照，以确定异常设备及异常单元； 其中，所述步骤200包括： 步骤210、根据坐标系制作所述异常CAD图； 所述步骤100包括： 步骤110、制作对应所述液晶面板生产工艺每一工序的设备接触点位CAD图； 步骤120、根据缩放比例对所述每一工序的设备接触点位CAD图进行等比例缩放； 步骤130、将缩放后的所有工序的设备接触点位CAD图制作成设备接触点位套图卡纸； 所述步骤110包括： 步骤111、获取所述液晶面板生产工艺每一工序的接触设备信息； 步骤112、根据该接触设备信息获取该接触设备信息的接触单元信息； 步骤113、根据该接触单元信息获取接触单元的接触类型信息； 所述步骤113包括： 步骤1131、获取每一接触类型信息在每一液晶面板产品的接触形状； 步骤1132、获取接触形状在工序中所有液晶面板产品中的分布图案； 其中，所述分布图案包括接触形状之间的横向尺寸信息以及纵向尺寸信息；所述分布图案指接触点位在工序CAD中的分布图，即设备接触点位CAD图； 所述步骤210包括： 步骤211、根据液晶面板产品样式建立坐标系，制作异常工序的异常CAD图； 步骤212、对液晶面板产品进行检测，获取发生异常的产品信息； 步骤213、将发生异常的产品位置标注在所述异常CAD图中； 所述步骤213包括： 步骤2131、将发生异常的产品位置的横向尺寸信息标注在异常CAD图中； 步骤2132、将发生异常的产品位置的纵向尺寸信息标注在异常CAD图中； 所述步骤300包括： 步骤310、根据异常CAD图获取所述液晶面板产品的发生异常的生产工序； 步骤320、根据所述生产工序的信息，从所述设备接触点位套图卡纸中选定对应该生产工序的设备接触点位卡纸； 步骤330、将所述设备接触点位卡纸与异常CAD图进行比照，以快速确定发生异常的设备及单元。

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