上海新相微电子股份有限公司施宇根获国家专利权
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龙图腾网获悉上海新相微电子股份有限公司申请的专利一种用于RAM存储的图像压缩方法及压缩装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114938451B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-18发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210337940.4,技术领域涉及:H04N19/176;该发明授权一种用于RAM存储的图像压缩方法及压缩装置是由施宇根设计研发完成,并于2022-03-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于RAM存储的图像压缩方法及压缩装置在说明书摘要公布了:本发明提供一种用于RAM存储的图像压缩方法,其特征在于,包括如下步骤:对图像数据划定特定区域块,并对所述特定区域块采用不少于两种压缩方式进行压缩,分别获得压缩结果;对所述压缩结果进行比较,并基于误差最小的压缩结果所对应的压缩模式作为当前压缩编码模式,输出与所述特定区域块对应的压缩结果;所述特定区域块为2*8的区域块。还提供一种用于RAM存储的图像压缩及重构装置。通过本发明提供的压缩装置,可以有效实现RAM存储图像的压缩。
本发明授权一种用于RAM存储的图像压缩方法及压缩装置在权利要求书中公布了:1.一种用于RAM存储的图像压缩方法,其特征在于,包括如下步骤: a.对图像数据划定特定区域块,并对所述特定区域块采用不少于两种压缩方式进行压缩,分别获得压缩结果; b.对所述压缩结果进行比较,将误差最小的压缩结果所对应的压缩模式作为当前压缩编码模式,输出与所述特定区域块对应的压缩结果; 其中,所述特定区域块为2*8的区域块; 其中,所述不少于两种压缩方式中的第一种压缩方式采用如下方式: 步骤i11:取所述特定区域块的坐标为0,0点之采样点值为值a、取所述特定区域块的坐标为2,-1点之采样点值为值b、取所述特定区域块的坐标为4,0点之采样点值为值c、取所述特定区域块的坐标为6,-1点之采样点值为值d、取所述特定区域块的坐标为7,0点之采样点值为值e; 步骤i12:根据所述采样点与一个未采样点的步长作为权重系数并根据所述采样点值计算所述特定区域块内未采样点的像素值; 其中,不少于两种压缩方式中的第二种压缩方式采用如下方式: 步骤i21:对所述特定区域块的像素值进行高灰阶和低灰阶统计,其中数量最多的灰阶作为参考灰阶; 步骤i22:确定所述参考灰阶对应像素值的中间值作为参考背景值; 步骤i23:对所述特定区域块以2*2区域为单位确定参考位置,其中,若所述参考灰阶为高灰阶的则确定所述2*2区域中数值最小的子像素点所在位置为参考位置;若所述参考灰阶为低灰阶的则确定所述2*2区域中数值最大的子像素点所在位置为参考位置; 步骤i24:对所述参考位置对应的数值取高5位,所述2*2区域中其他子像素点的状态值确定为0或1,其中若所述子像素点的灰阶与所述参考灰阶相同则确定所述子像素点的状态值为0,否则确定所述子像素点的状态值为1。
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