中国科学院长春光学精密机械与物理研究所李龙响获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利磁流变抛光多面共体元件一体加工位姿计算方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120055909B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510544988.6，技术领域涉及：B24B1/00；该发明授权磁流变抛光多面共体元件一体加工位姿计算方法是由李龙响;刘夕铭;李兴昶;程强;张峰;张学军设计研发完成，并于2025-04-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本磁流变抛光多面共体元件一体加工位姿计算方法在说明书摘要公布了：本发明涉及光学加工技术领域，尤其涉及一种磁流变抛光多面共体元件一体加工位姿计算方法，根据待加工的多面共体元件中各镜体的表面，确定加工时的各镜体对应的轨迹片段；结合各镜体对应的轨迹片段，得到加工时的理想抛光轨迹；设定加工工具在加工时的抛光间隙，以及确定多面共体元件中镜体的各点法线；根据抛光间隙以及各点法线，得到加工工具的实际抛光轨迹，以及加工工具的加工姿态，得出加工工具的加工位姿。本发明实现同轴多面共体元件一体加工位姿控制，减少多工段加工冗余制造时间。
本发明授权磁流变抛光多面共体元件一体加工位姿计算方法在权利要求书中公布了：1.一种磁流变抛光多面共体元件一体加工位姿计算方法，其特征在于，包括： S1：根据待加工的多面共体元件中各镜体的表面，确定加工时的各镜体对应的轨迹片段；结合各镜体对应的轨迹片段，得到加工时的理想抛光轨迹；步骤S1包括： S11：获取所述多面共体元件中主体镜和从体镜的表面方程； S12：以所述主体镜的单侧一环臂为参考，生成第一轨迹片段； S13：以所述主体镜除去S12中的环臂外其余的环臂为参考，生成第二轨迹片段； S14：以所述从体镜为参考，生成第三轨迹片段； S15：根据步骤S12~S14得到的所述第一轨迹片段、所述第二轨迹片段以及所述第三轨迹片段，得到所述理想抛光轨迹； S2：设定加工工具在加工时的抛光间隙，以及确定所述多面共体元件中镜体的各点法线； S3：根据步骤S1得到的理想抛光轨迹，以及步骤S2得到的抛光间隙以及各点法线，得到所述加工工具的实际抛光轨迹，以及所述加工工具的加工姿态； S4：结合步骤S3得到的实际抛光轨迹以及加工姿态，得出所述加工工具的加工位姿。
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