共模半导体技术(苏州)有限公司朱柯嘉获国家专利权
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龙图腾网获悉共模半导体技术(苏州)有限公司申请的专利一种用于模拟芯片抗老化的校正补偿系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119916191B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510415390.7，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种用于模拟芯片抗老化的校正补偿系统及方法是由朱柯嘉;胡伟;何捷设计研发完成，并于2025-04-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于模拟芯片抗老化的校正补偿系统及方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种用于模拟芯片抗老化的校正补偿系统及方法，该系统包括老化模拟单元和老化补偿单元，所述老化模拟单元包括电流源系统和金属电阻，用于模拟芯片老化过程；所述老化补偿单元包括比较器、校正控制电路和模拟电路，所述比较器用于检测所述金属电阻两端输出电压差，获取芯片寿命信息；所述校正控制电路根据芯片寿命信息产生校正码并叠加到模拟电路，以补偿器件老化造成的损耗，有效延长了芯片使用寿命，提高了芯片的可靠性和稳定性。
本发明授权一种用于模拟芯片抗老化的校正补偿系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种用于模拟芯片抗老化的校正补偿系统，其特征在于，该系统包括： 老化模拟单元，包括电流源系统和金属电阻，用于模拟芯片老化过程，所述电流源系统产生电流流过所述金属电阻产生电迁移效应，使所述金属电阻阻值逐渐增大； 老化补偿单元，包括比较器、校正控制电路和模拟电路，所述比较器用于检测所述金属电阻两端输出电压差，获取芯片寿命信息；所述校正控制电路根据芯片寿命信息产生校正码并叠加到模拟电路，以补偿器件老化造成的损耗； 所述校正控制电路包括若干个校正码生成模块，所述校正码生成模块的数量与校正码比特数一致，各校正码生成模块均包括一个导向器、至少两个与门电路和一个或门电路；其中， 导向器，根据所述比较器的比较结果，将所述比较器的输出信号分别导向至少两个与门电路； 至少两个与门电路，其中一个与门电路的一个输入端连接至地，另一个与门电路的一个输入端连接至电源； 或门电路，将所述至少两个与门电路的输出进行或运算后输出校正码；其中，所述比较器的输出信号表征待测芯片的老化程度，所述校正码用于对待测芯片的老化特性进行补偿校正。
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