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龙图腾网获悉无锡惠芯半导体有限公司申请的专利一种场效应晶体管的可靠性预测方法、装置及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119918308B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510407754.7，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权一种场效应晶体管的可靠性预测方法、装置及系统是由陈志阳;杨超;丁浩宸设计研发完成，并于2025-04-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种场效应晶体管的可靠性预测方法、装置及系统在说明书摘要公布了：本发明属于场效应晶体管性能预测技术领域，具体涉及一种场效应晶体管的可靠性预测方法、装置及系统，通过利用相关性分析方法从历史运行记录中环境参数、电气参数和性能参数的时序数据中确定其变动时与性能参数变化的关联性，筛选出关键性能参数，进而在利用筛选出的关键性能参数进行寿命预测前构建场效应晶体管的虚拟运行模型，并使用历史数据对虚拟运行模型进行有效性验证，最后利用验证成功的虚拟运行模型时通过历史数据模拟环境参数和电气参数的动态变化，记录关键性能参数的退化趋势，并基于此进行剩余寿命预测，不仅提高了预测效率，还使得寿命预测能够更加准确地反映实际工况，提高了剩余寿命预测的准确性。

本发明授权一种场效应晶体管的可靠性预测方法、装置及系统在权利要求书中公布了：1.一种场效应晶体管的可靠性预测方法，其特征在于，包括以下步骤： Step1、从运行数据库中调取场效应晶体管的历史运行记录，包括环境参数、电力参数及性能参数的时序数据； Step2、将历史运行记录通过交叉相关性分析确定环境参数或电力参数变动时与性能参数变化的关联性，筛选出关键性能参数； Step3、基于场效应晶体管的材料特性与器件结构构建虚拟运行模型，所述虚拟运行模型输入为环境参数、电力参数，输出为性能参数； Step4、将所述历史运行记录中的环境参数和电气参数时序数据输入虚拟运行模型，并通过对比模型输出的性能参数与历史运行记录中对应性能参数验证模型的有效性； Step5、在验证模型有效时在虚拟运行模型中利用历史数据模拟环境参数和电气参数的动态变化，记录关键性能参数的退化趋势； Step5具体过程如下：以每项关键性能参数对应的敏感因素为自变量，其他非敏感因素作为固定量，关键性能参数为因变量，形成模拟组； 将模拟组中敏感因素对应波动范围内的最小值和最大值结合安全裕度定义为模拟区间的边界； 在模拟区间内设置步长，使敏感因素在其模拟区间内按设定的步长逐步增加； 在每个模拟组的动态模拟过程中，记录关键性能参数的输出结果，并基于这些结果绘制退化模拟曲线； 针对每个模拟组对应关键性能参数的退化模拟曲线选择数学模型对其进行拟合，使用拟合模型外推未来时间点的关键性能参数值作为关键性能参数值的未来趋势值； Step6、根据所述退化趋势预测场效应晶体管的剩余寿命和加速退化时间，并生成寿命评估报告； Step6具体过程如下： 场效应晶体管的剩余寿命预测过程为： 根据场效应晶体管的技术规格设定关键性能参数的失效阈值； 利用拟合模型求解当关键性能参数达到失效阈值时的时间点，作为该参数对应的寿命时效时间点； 针对每个关键性能参数对应的寿命时效时间点结合统计分布模型计算剩余寿命的置信区间； 加速退化时间预测过程为： 基于关键性能参数值的未来趋势值绘制退化趋势曲线； 在绘制的关键性能参数的退化趋势曲线上计算不同时间点的退化速率； 通过对不同时间点的退化速率进行对比，识别出退化速率显著增加的时间点作为加速退化时间点。

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