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龙图腾网获悉深圳玖合精工科技有限公司申请的专利一种DDR5内存芯片自动化筛选方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119811468B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510296516.3，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种DDR5内存芯片自动化筛选方法是由王择珑;吴伟波设计研发完成，并于2025-03-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种DDR5内存芯片自动化筛选方法在说明书摘要公布了：本发明涉及半导体筛选技术领域,公开了一种DDR5内存芯片自动化筛选方法，包括以下步骤：S1、数据采集：通过自动化测试平台采集每批次DDR5内存芯片的频率、电压、时序和功耗的测试数据；S2、芯片特性建模：根据采集的测试数据建立每批次芯片的特性模型；S3、多目标优化：根据测试数据构建多个目标函数，对频率误差、电压误差、时序误差和功耗进行多目标优化，得到Pareto最优解；S4、参数自动调整。本发明通过多目标优化、非线性建模、贝叶斯推理和模糊控制，实现了芯片筛选过程的精确化和自动化，显著提高了筛选精度和效率，确保芯片在高负载和特殊应用环境下的性能一致性和稳定性。

本发明授权一种DDR5内存芯片自动化筛选方法在权利要求书中公布了：1.一种DDR5内存芯片自动化筛选方法，其特征在于，包括以下步骤： S1、数据采集：通过自动化测试平台采集每批次DDR5内存芯片的频率、电压、时序和功耗的测试数据； S2、芯片特性建模：根据采集的测试数据建立每批次芯片的特性模型；通过特性建模，分析不同的测试参数对芯片性能的影响，并为后续的参数优化、自动调整和分类提供依据； S3、多目标优化：根据测试数据构建多个目标函数，对频率误差、电压误差、时序误差和功耗进行多目标优化，得到Pareto最优解； S4、参数自动调整：基于Pareto最优解，自动调整测试参数，包括频率、电压、时序和误差； S5、非线性建模与贝叶斯推理：使用非线性回归模型建立芯片性能与测试参数之间的非线性关系，结合贝叶斯推理方法更新测试参数的后验分布； S6、模糊逻辑控制与自适应调整：使用模糊控制规则根据实时测试数据动态调整测试参数，保证测试过程的最优状态； S7、芯片分类与BIN分配：根据测试结果对芯片进行分类，将芯片按其性能指标分为多个BIN组，并输出每个BIN组的测试参数。

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