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龙图腾网获悉左蓝微(江苏)电子技术有限公司申请的专利芯片良率检测方法及其系统、计算机设备、计算机可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119247098B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411381063.6，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权芯片良率检测方法及其系统、计算机设备、计算机可读存储介质是由孙亚军设计研发完成，并于2024-09-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片良率检测方法及其系统、计算机设备、计算机可读存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片检测技术领域，特别涉及一种芯片良率检测方法及其系统、计算机设备、计算机可读存储介质，步骤如下：识别晶圆上各器件的测试SNP文件，将SNP文件转化为测试数据；自定义SPEC文件，SPEC文件的自定义内容包括dB值、测试项、各测试项下的最大值及最小值；读取测试数据，根据SPEC文件定义的测试项相应计算各测试项下的测试值，并将测试值与对应测试项下的最大值和最小值比较，获取各测试项的测试结果，根据各测试项的测试结果，来判定该器件是否合格；根据各器件的合格状态来计算整片晶圆的良率，并输出良率数据文件；本发明自动检测及统计，通用性强，且良率检测及统计的可靠性高。

本发明授权芯片良率检测方法及其系统、计算机设备、计算机可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片良率检测方法，其特征在于，步骤如下： S1、识别晶圆上各器件的SNP文件，将SNP文件转化为测试数据；其中，测试数据为若干个频率点及其对应的若干个dB值； S2、自定义SPEC文件，SPEC文件的自定义内容包括dB值、测试项、各测试项下的最大值及最小值；其中，测试项包括最小插损、左肩频率、右肩频率、带宽和中心频率； S3、读取测试数据，根据SPEC文件定义的测试项相应计算各测试项下的测试值，并将测试值与对应测试项下的最大值和最小值比较，获取各测试项的测试结果，根据各测试项的测试结果，来判定该器件是否合格； S4、根据步骤S3中各器件的合格状态来计算整片晶圆的良率，并输出良率数据文件； 所述dB值的自定义规则如下： 获取SNP文件中的最大dB值，设置预设dB值，将最大dB值和预设dB值相加，得到自定义dB值，若自定义dB值在SNP文件中存在对应的dB值，则确定该dB值所对应的频率点；若自定义dB值在SNP文件中不存在对应的dB值，则进行线性化处理； 其中，所述线性化处理的步骤如下： 以自定义dB值为基点，在SNP文件所转化的测试数据中，依据测试项中定义的规则向低频处高频处进行频率点的搜寻，获取到自定义dB值的正负相邻的两个频率点A和频率点B，其中频率点A的dB值小于自定义dB值，且频率点B的dB值大于自定义dB值，以频率点A和频率点B为端点进行线性化，根据线性化函数计算出自定义dB值所对应的频率点。

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