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龙图腾网获悉电子科技大学申请的专利一种基于背景判别的恒虚警检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116008977B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310067102.4，技术领域涉及：G01S13/02；该发明授权一种基于背景判别的恒虚警检测方法是由王伟浩;宗竹林;冯彬设计研发完成，并于2023-01-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于背景判别的恒虚警检测方法在说明书摘要公布了：本发明属于雷达恒虚警检测领域，涉及一种基于背景判别的恒虚警检测方法。本发明方法采用删除恒虚警检测的思想，保证了目标遮蔽情况下的检测概率，使得本发明对于目标遮蔽情况下的检测概率更高。本发明在全检测范围内计算杂波分离点，进一步提高了杂波分界点附近虚警概率的稳定性，提高了检测性能。在不同的情况采用不同的检测策略，本发明的方法可以实现多目标干扰情况下的目标检测，提高杂波边缘处虚警概率的稳定性。

本发明授权一种基于背景判别的恒虚警检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于背景判别的恒虚警检测方法，其特征在于，包括以下步骤： S1、对于给定的检测序列x1,...,xN，判断检测背景是否均匀，若是，则进入步骤S2，否则，进入S4； S2、计算检测门限，具体为： 定义参考单元序列为x1,...,xM，参考单元为待检单元两侧用于计算门限的检测序列，待检单元是指检测序列中的一个元素，定义超前参考窗和超后参考窗内参考单元个数均为M2个，并且参考单元序列为x1,...,xM概率密度函数分布服从指数分布，则对于k＝1,...,M-1分别得到其似然函数表达式： 其中表示K左右两侧的背景功率，对上式左右两侧求对数，并分别令lnLK对求导的结果为0，对k＝1,...,M-1的估计结果等效于； 其中表示使取最小值时K的取值，则得到检测门限T为： 其中，Pfa为虚警概率； S3、判定检测序列中是否存在超过检测门限T的单元xm，若存在，则令： 并且在检测序列的m-M2,...,m+M2范围内根据S2的方法重新计算检测门限T并重复执行S3；否则进入S6； S4、在整个检测范围内通过如下公式判断杂波边缘的位置： 其中， 根据得到的不同背景功率杂波分离点的位置设置左右保护单元各Mp个，保护单元是与待检测单元相邻的检测序列，位于参考单元和待检测单元之间；判断参考单元和保护单元是否包含杂波分离点，若是，则进入S5，否则进入S2； S5、判断待检测单元是否处于功率背景较高的杂波区域，若是，则计算检测门限： 得到检测门限后进入S6，否则进入S2； S6、判断检测序列是否大于检测门限，若是，则判定有目标，否则判定无目标。

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