北京航空航天大学丁铭获国家专利权
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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利一种通过标定实验对辐射测温中反射辐射进行修正的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115468661B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-22发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211267407.1，技术领域涉及：G01J5/80；该发明授权一种通过标定实验对辐射测温中反射辐射进行修正的方法是由丁铭;朱剑;王波涛设计研发完成，并于2022-10-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种通过标定实验对辐射测温中反射辐射进行修正的方法在说明书摘要公布了：一种通过标定实验对辐射测温中反射辐射进行修正的方法，采用黑体炉对辐射测温传感器进行标定，得到系统输入辐射度和输出之间的关系；接着在存在高温背景的测温环境中，对反射辐射进行标定，建立反射辐射与系统输出之间的函数关系；在之后的测温实验中，根据建立的函数关系对系统接收的辐射能量进行修正，并根据辐射测温原理对物体的真实温度进行计算。本发明方法解决了高温背景下的反射辐射对物体测温产生影响的问题，可以有效消除由反射辐射引起的测温误差，实现高精度的温度测量。
本发明授权一种通过标定实验对辐射测温中反射辐射进行修正的方法在权利要求书中公布了：1.一种通过标定实验对辐射测温中反射辐射进行修正的方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1，在黑体炉标定实验中，利用黑体炉对辐射测温传感器的输入辐射度M和输出电压值V之间的响应函数关系进行标定，通过M＝KV确定传感系统常量值K； 步骤2，针对高温炉中的待测物用所述辐射测温传感器建立待测物总辐射度Mt与输出电压值V之间的如下函数关系： Mt＝KV； 步骤3，在反射辐射标定实验中，记录辐射测温传感器的电压值，并采用公式Mt＝KV计算辐射测温传感器接收的总辐射量Mt；同时利用热电偶测得所述待测物的温度To，根据普朗克公式，由To计算得到待测物辐射出射度Mo； 步骤4，根据公式Mr＝Mt-Mo计算不同温度下的反射辐射Mr，并进一步可以拟合得到待测物反射辐射Mr和电压值V之间的函数关系Mr＝fV，完成反射辐射的标定； 步骤5，在辐射测温实验中，根据辐射测温传感器输出的电压值V分别由Mt＝KV和Mr＝fV计算总辐射量Mt和反射辐射Mr；再根据Mo＝Mt-Mr计算涡轮叶片自身的辐射出射度Mo，实现对反射辐射的修正。
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