武汉利之达科技股份有限公司;湖北利之达电子科技有限公司刘松坡获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉利之达科技股份有限公司;湖北利之达电子科技有限公司申请的专利一种提高陶瓷基板性能检测效率的抽样方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114154858B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-22发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111466523.1,技术领域涉及:G06Q10/0631;该发明授权一种提高陶瓷基板性能检测效率的抽样方法是由刘松坡;王哲设计研发完成,并于2021-12-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种提高陶瓷基板性能检测效率的抽样方法在说明书摘要公布了:一种提高陶瓷基板性能检测效率的抽样方法,步骤1:采集客户质量需求,包括陶瓷基板上的总触点数、可拒接受质量水平和消费者风险;步骤2:厂家设定检测质量要求,包括可接受质量水平和生产者风险;步骤3:根据客户质量需求和厂家检测质量要求制定抽样方案,确定抽样方案中所需样本触点数和不导电触点数阈值;步骤4:使用飞针机进行触点通断性测试,得到不导电触点数。可根据客户需求快速制定抽样检测方案,该检测方案在保持交付给客户的成品维持符合要求的次品率同时,所检验的触点数量大大减少,可有效节约检测时间,提高生产效率,具有很高的经济效益。
本发明授权一种提高陶瓷基板性能检测效率的抽样方法在权利要求书中公布了:1.一种提高陶瓷基板性能检测效率的抽样方法,其特征在于:包括以下具体步骤: 步骤1:采集客户质量需求,包括陶瓷基板上的总触点数、可拒接受质量水平和消费者风险; 步骤2:厂家设定检测质量要求,包括可接受质量水平和生产者风险; 步骤3:根据客户质量需求和厂家检测质量要求制定抽样方案,确定抽样方案中所需样本触点数和不导电触点数阈值; 步骤4:使用飞针机进行触点通断性测试,得到不导电触点数; 步骤5:比较步骤4中测试所得的不导电触点数和步骤3中不导电触点数阈值,得到该陶瓷基板是否合格的抽样结果; 所述步骤3中,使用Minitab软件生成抽样方案的所需样本触点数大小和不导电触点数阈值,具体步骤是:运行Minitab软件的按属性抽样验收,选择创建抽样计划,将所述步骤1客户质量需求的总触点数输入到批次大小,可拒接受质量水平输入到可拒收质量水平LTPD,消费者风险输入到消费者风险Beta,将所述步骤2检测质量要求的可接受质量水平输入到可接受质量水平AQL,生产者风险输入到生产者风险Alpha,运行软件即可得到抽样方案的样本数量和接受数,其中样本数量是样本触点数大小,接受数是不导电触点数阈值;运行Minitab软件生成抽样方案时,还生成抽检特征OC曲线图和平均总检验数ATI对照表; 所述步骤5中具体采用以下方法判定抽样结果:若飞针机测试所得的不导电触点数大于不导电触点数阈值,则判定该陶瓷基板为次品;若测试所得的不导电触点数小于等于不导电触点数阈值,则需要根据平均总检验数ATI对照表进一步判定是否需要复检; 判定是否需要复检的具体方法是:定义总触点数为n,平均检验总数ATI为ATI,所述步骤4中的不导电触点数为e,不导电触点数阈值为x,设定35%n≤ATI≤45%n,读取平均总检验数ATI对照表,找到符合要求的平均检验总数ATI,对应该平均检验总数ATI的不导电触点数即设为复检阈值k,当k<e≤x时,需要对该陶瓷基板进行复检。
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