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龙图腾网获悉重庆云潼科技有限公司申请的专利一种功率芯片的过电流能力的检测方法、装置及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118897180B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411211619.7，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种功率芯片的过电流能力的检测方法、装置及设备是由何振萍;王友强;廖光朝设计研发完成，并于2024-08-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种功率芯片的过电流能力的检测方法、装置及设备在说明书摘要公布了：本发明涉及功率芯片检测技术领域，尤其涉及一种功率芯片的过电流能力的检测方法，该方法应用于功率芯片的检测模块，该方法包括：获取所述功率芯片的驱动模式，所述驱动模式包括三相全桥模式和H桥模式；在所述驱动模式下，控制所述检测模块检测所述功率芯片的三相电中的每相电的过电流能力；在检测所述功率芯片的每相电的过电流能力的过程中，对所述功率芯片的每相电进行预设数量测试周期的电流测试，得到所述每相电的电流有效值；若所述每相电的电流有效值均位于预设电流阈值范围，则输出所述功率芯片为合格品的结果信息。该方法兼容H桥模块和三相全桥模块的过电流能力检测，提高功率芯片的过电流能力的检测效率，提升检测可靠性和准确度。

本发明授权一种功率芯片的过电流能力的检测方法、装置及设备在权利要求书中公布了：1.一种功率芯片的过电流能力的检测方法，其特征在于，应用于功率芯片的检测模块，所述检测模块包括N个并联连接的桥臂支路，N≥2，每个桥臂支路包括串联连接的两个开关管，所述每个桥臂支路的两个开关管之间线路的第一交点依次通过对应的开关和电感连接于第二交点；所述方法包括： 获取所述功率芯片的驱动模式，所述驱动模式包括三相全桥模式和H桥模式； 在所述驱动模式下，控制所述检测模块检测所述功率芯片的三相电中的每相电的过电流能力，包括： 若所述驱动模式为所述三相全桥模式，则在所述三相全桥模式下，在所述每相电中，控制所述检测模块中对应的第一桥臂支路和第二桥臂支路处于导通测试状态，得到所述每相电在每个测试周期里的电流测试值； 在所述每相电中，控制所述检测模块中对应的第一桥臂支路和第二桥臂支路处于导通测试状态，得到所述每相电在每个测试周期里的电流测试值，包括： 针对所述每相电，控制所述第一桥臂支路的开关和所述第二桥臂支路的开关处于闭合状态，所述检测模块中除所述第一桥臂支路和所述第二桥臂支路之外的桥臂支路的开关均处于断开状态； 每个所述测试周期均包括依次相连的第一时长、第二时长和第三时长； 在每个所述测试周期中，在所述第一时长和所述第三时长中，控制所述第一桥臂支路的第一开关管和所述第二桥臂支路的第二开关管处于导通状态，所述第一桥臂支路的第二开关管和所述第二桥臂支路的第一开关管处于截止状态； 在所述第二时长中，控制所述第一桥臂支路的第二开关管和所述第二桥臂支路的第一开关管处于导通状态，所述第一桥臂支路的第一开关管和所述第二桥臂支路的第二开关管处于截止状态； 通过一个所述测试周期，得到该相电在一个所述测试周期里的电流测试值，进而得到该相电在每个所述测试周期里的电流测试值； 所述每相电均执行上述每个所述测试周期的操作，得到所述每相电在每个测试周期里的电流测试值； 其中，通过所述测试周期逐渐使得待测试的功率芯片的测试电流逐渐增大至目标电流； 所述H桥模式下的过程与所述三相全桥模式下的过程一致； 在检测所述功率芯片的每相电的过电流能力的过程中，对所述功率芯片的每相电进行预设数量测试周期的电流测试，得到所述每相电的电流有效值； 若所述每相电的电流有效值均位于预设电流阈值范围，则输出所述功率芯片为合格品的结果信息。

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