深圳市诚芯微科技股份有限公司何刚获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉深圳市诚芯微科技股份有限公司申请的专利集成电路测试方法、装置、计算机设备以及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119227630B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411031745.4，技术领域涉及：G06F30/398；该发明授权集成电路测试方法、装置、计算机设备以及存储介质是由何刚;曹建林设计研发完成，并于2024-07-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本集成电路测试方法、装置、计算机设备以及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及电子技术测试的技术领域。本申请涉及一种集成电路测试方法、装置、计算机设备以及存储介质，包括获取集成电路测试信息，根据集成电路测试信息匹配测试配置文件，根据测试配置文件，得到预设的测试信号，将预设的测试信号输入到待测试的集成电路，采集输出信号，得到集成电路分析结果，将集成电路分析结果与预设分析结果进行比较，生成测试报告。本申请具有实现集成电路测试的准确性和效率的效果。
本发明授权集成电路测试方法、装置、计算机设备以及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种集成电路测试方法，其特征在于，所述集成电路测试方法包括： 获取集成电路测试信息，根据所述集成电路测试信息匹配测试配置文件； 所述获取集成电路测试信息，根据所述集成电路测试信息匹配测试配置文件，包括： 基于所述集成电路待测试信息，得到测试参数，所述测试参数包括待测试集成电路的型号、测试模式和测试条件； 根据所述测试参数查询预设的测试配置文件数据库，选择匹配的所述测试配置文件； 所述根据所述测试参数查询预设的测试配置文件数据库，选择匹配的所述测试配置文件，还包括： 在所述预设的测试配置文件数据库中，基于所述测试参数执行多维索引搜索，得到测试搜索结果； 通过机器学习算法对所述测试搜索结果进行排序，选择与所述测试参数匹配度最高的测试配置文件； 根据所述测试配置文件，得到预设的测试信号； 将所述预设的测试信号输入到待测试的集成电路，采集输出信号，得到集成电路分析结果； 将所述集成电路分析结果与预设分析结果进行比较，生成测试报告。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人深圳市诚芯微科技股份有限公司，其通讯地址为：518000 广东省深圳市龙岗区南湾街道下李朗社区布澜路31号李朗国际珠宝产业园厂房一A3栋601；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由AI智能生成
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号