深圳超盈智能科技有限公司夏俊杰获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳超盈智能科技有限公司申请的专利一种芯片测试治具获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223155049U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202421290562.X，技术领域涉及：G01R1/04；该实用新型一种芯片测试治具是由夏俊杰;林华胜;顾红伟设计研发完成，并于2024-06-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片测试治具在说明书摘要公布了：本实用新型涉及芯片生产测试领域，公开了一种芯片测试治具，包括测试台架、芯片测试电路板和芯片限位机构，芯片测试电路板固定在测试台架内部，测试台架上端面设置有限位凹台结构，限位凹台结构底部设置有与芯片测试电路板对接的测试对接模块，芯片限位机构包括设置在限位凹台结构内部的芯片限位框架和设置在测试台架上表面对芯片上表面进行限位的芯片上限位部件，限位凹台结构和芯片限位框架上对应设置有互相吸附的第一磁性件和第二磁性件，限位凹台结构的对应两侧设置有取放让位槽，芯片限位框架外侧壁下端与取放让位槽对应位置设置有取放让位凹台。更换芯片限位框架操作简单、方便快捷，有效提高小批量产品或者样品的检测效率。
本实用新型一种芯片测试治具在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试治具，包括测试台架100、芯片测试电路板200和芯片限位机构，其特征在于：所述芯片测试电路板200固定在测试台架100内部，所述测试台架100上端面设置有限位凹台结构120，所述限位凹台结构120底部设置有与芯片测试电路板200对接的测试对接模块110，所述芯片限位机构包括设置在限位凹台结构120内部的芯片限位框架310和设置在测试台架100上表面对芯片上表面进行限位的芯片上限位部件320，所述限位凹台结构120和芯片限位框架310上对应设置有互相吸附的第一磁性件130和第二磁性件330，所述限位凹台结构120的对应两侧设置有取放让位槽121，所述芯片限位框架310外侧壁下端与取放让位槽121对应位置设置有取放让位凹台311。
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