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龙图腾网获悉中国科学院上海技术物理研究所申请的专利一种基于联合低秩张量近似的星载高光谱图像异常检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117764935B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311708863.X，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种基于联合低秩张量近似的星载高光谱图像异常检测方法是由刘银年;吕帅;赵思维设计研发完成，并于2023-12-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于联合低秩张量近似的星载高光谱图像异常检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于联合低秩张量近似的星载高光谱图像异常检测方法，用三阶张量表示高光谱图像，将原始高光谱图像张量分解为背景张量和异常张量的和；根据高光谱图像在空间维和光谱维的低秩特性，在低秩分解模型中为背景张量设计联合低秩约束正则项和空间局部光滑性正则项，为异常张量施加逐管稀疏约束；然后，利用交替方向乘子法迭代求解上述优化模型，得到最优分解结果；最后，根据分解得到的最优异常张量获得最终异常检测结果。本发明的方法能够在星载高光谱图像复杂背景中有效实现高精度的异常检测，能有效适用于海洋、陆地、森林、戈壁等不同复杂背景中的异常检测，为后续精确的目标检测和识别奠定了重要基础。

本发明授权一种基于联合低秩张量近似的星载高光谱图像异常检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于联合低秩张量近似的星载高光谱图像异常检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 1令待检测的原始高光谱图像为其中，表示实数域，H和W为高光谱图像的空间尺寸，B为波段数；将原始高光谱图像分解得到一个背景张量和一个异常张量则原始高光谱图像表示为： 2根据星载高光谱图像的双方向低秩特性，为背景张量施加空间和光谱两个维度低秩约束以及空间局部光滑性约束，为异常张量施加逐管稀疏约束，得到以下优化模型 其中，为背景张量的空间维和光谱维联合低秩特性的度量，用于同时约束背景张量的空间低秩特性和光谱低秩特性；为背景张量的空间局部光滑性正则项，为异常张量的管稀疏性正则项；表示调整变量和使其后续目标函数最小，为约束条件； 优化模型中的管稀疏性正则项数学表示为： 其中，λ是正则化参数，||·||1,1,2表示矩阵的l1,1,2范数，||·||F表示矩阵的F范数，为异常张量，i表示异常张量二维空间上的行索引，j表示异常张量二维空间上的列索引，表示分解得到的异常张量中对应的空间位置为i，j的模3纤维，模3纤维为高光谱图像中的光谱向量； 3使用交替方向乘子法求解上述优化模型，得到最优背景张量和最优异常张量 4通过最优异常张量计算最终的异常检测结果R，数学表示如下： 式中，||·||F为矩阵的F范数，表示分解得到的最优异常张量中对应的空间位置为i，j的模3纤维，模3纤维为高光谱图像中的光谱向量；其中，i表示检测结果R的行索引，j表示检测结果R的列索引。

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