中国特种设备检测研究院俞跃获国家专利权
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龙图腾网获悉中国特种设备检测研究院申请的专利一种基于空间相位差的微波损伤检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115808139B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310034444.6，技术领域涉及：G01B15/00；该发明授权一种基于空间相位差的微波损伤检测方法及系统是由俞跃设计研发完成，并于2023-01-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于空间相位差的微波损伤检测方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开一种基于空间相位差的微波损伤检测方法及系统，涉及损伤检测领域，方法包括获取被测对象不同检测单位位置的合成微波信号；根据不同检测单位位置的合成微波信号确定被测对象对微波产生的相移；根据所述相移确定被测对象的损伤位置。本发明可实现材料高精度的检测。
本发明授权一种基于空间相位差的微波损伤检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于空间相位差的微波损伤检测方法，其特征在于，包括： 获取被测对象不同微波检测单元位置的合成微波信号；空间中同时存在发射波和反射波，且两个波形频率相同；微波检测单元读取的是两束相干波干涉后的信号，两束相干波干涉后的信号即指的合成微波信号；发射强度和反射强度相等； 根据不同微波检测单元位置的合成微波信号确定被测对象对微波产生的相移； 根据所述相移确定被测对象的损伤位置；通过将微波发射和检测单元固定在一起形成微波检测单元，通过移动微波检测单元或者被测对象，可对被检对象整体的相移值进行扫描，找出材料可能产生损伤的位置； 当：时，其中N为整数，则所述被测对象对微波产生的相移的表达式为： 其中，||S0||t,z1为第一微波检测单元位置处合成微波信号，||S0||t,z2为第二微波检测单元位置处合成微波信号，Ae为发射强度，Ar为反射强度，ω为微波频率，c为光速，L为被测对象位置，为相移，z1为第一微波检测单元位置，z2为第二微波检测单元位置，t为时间。
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