上海集成电路研发中心有限公司王春获国家专利权
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龙图腾网获悉上海集成电路研发中心有限公司申请的专利一种版图数据处理方法、装置、电子设备和可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116306456B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211696569.7，技术领域涉及：G06F30/392；该发明授权一种版图数据处理方法、装置、电子设备和可读存储介质是由王春设计研发完成，并于2022-12-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种版图数据处理方法、装置、电子设备和可读存储介质在说明书摘要公布了：本申请涉及集成电路领域，公开了一种版图数据处理方法、装置、设备和存储介质，包括从在光罩上排版的芯片组合中选取多个目标芯片以匹配保护环；芯片组合包括多个不同种类的芯片；获取各个目标芯片的单个版图数据、保护环的版图数据以及识别层的版图数据；识别层包括倒角识别单元，倒角识别单元与保护环上倒角保护体对应设置，且倒角识别单元在倒角保护体上的投影完全覆盖导角保护体；导出各个目标芯片的单个版图数据、保护环的版图数据及识别层的版图数据。本申请可以解决保护环与不同芯片拼接的问题，避免重复修改芯片版图数据，且便于修改单个芯片的版图数据；不受限于芯片面积，可灵活组合MPW排版位置。
本发明授权一种版图数据处理方法、装置、电子设备和可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种版图数据处理方法，其特征在于，包括： 从在光罩上排版的芯片组合中选取多个目标芯片以匹配保护环；所述芯片组合包括多个不同种类的芯片； 获取各个所述目标芯片的单个版图数据、所述保护环的版图数据以及识别层的版图数据；所述识别层包括倒角识别单元，所述倒角识别单元与所述保护环上倒角保护体对应设置，且所述倒角识别单元在所述倒角保护体上的投影完全覆盖所述倒角保护体； 导出各个所述目标芯片的单个版图数据、所述保护环的版图数据以及所述识别层的版图数据，其中，各个所述目标芯片的单个版图数据、所述保护环的版图数据以及所述识别层的版图数据为各自独立的数据。
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