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龙图腾网获悉福州大学申请的专利基于晶体劈干涉与峰值检测电路的光学电流传感器应力线双折射补偿方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115980430B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211638052.2，技术领域涉及：G01R19/00；该发明授权基于晶体劈干涉与峰值检测电路的光学电流传感器应力线双折射补偿方法是由徐启峰设计研发完成，并于2022-12-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于晶体劈干涉与峰值检测电路的光学电流传感器应力线双折射补偿方法在说明书摘要公布了：本发明提出一种基于晶体劈干涉与峰值检测电路的光学电流传感器应力线双折射补偿方法，针对温度变化与震动在磁光薄膜和传输光纤中产生应力线双折射，并与法拉第磁致旋光角混叠一起难以分离与补偿的问题。本发明基于晶体劈干涉实现光学电流传感器能够线性解调法拉第磁致旋光角；当存在应力线双折射时，光学电流传感器的输出为法拉第磁致旋光角与应力线双折射的线性叠加；利用峰值检测电路确定待测交流电流的峰值，此时法拉第磁致旋光角为90°，光学电流传感器输出信号与法拉第磁致旋光角之差即为应力线双折射，可以将其检测出来并予以补偿。

本发明授权基于晶体劈干涉与峰值检测电路的光学电流传感器应力线双折射补偿方法在权利要求书中公布了：1.一种基于晶体劈干涉与峰值检测电路的光学电流传感器应力线双折射补偿方法，其特征在于：基于晶体劈干涉可以实现法拉第磁致旋光角的线性解调；当存在应力线双折射时，光学电流传感器的输出为法拉第磁致旋光角与应力线双折射的线性叠加；利用峰值检测电路确定待测交流电流的峰值，此时法拉第磁致旋光角的理论值为90°，光学电流传感器输出信号与法拉第磁致旋光角之差即为应力线双折射，将其检测出来并予以补偿； 一次导线（1）通待测交流电流后，在集磁环（2）产生磁场；激光（3）穿过第一导磁板（4），再经过起偏器（5）得到线偏振光；线偏振光通过磁光薄膜（6），在磁场作用下偏振光偏振面发生旋转，其旋转角度即为法拉第磁致旋光角； 温度变化与震动在磁光薄膜和传输光纤中产生应力线双折射，并叠加在法拉第磁致旋光角上；线偏振光经过四分之一波片（7）变为圆偏振光，其被分解为两束线偏振光：o光和e光；再通过晶体劈（8）与检偏器（9）后，获得明暗条纹相间的干涉条纹图像（11）；利用峰值检测电路（12）确定待测交流电流的峰值时刻，根据法拉第磁光效应，此时法拉第磁致旋光角为90°，其对应第一光斑图像（13）；光学电流传感器的输出结果与法拉第磁致旋光角之差即为应力线双折射，其对应第二光斑图像（14）。

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