北京环境特性研究所刘芳获国家专利权
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龙图腾网获悉北京环境特性研究所申请的专利一种提升有源天线目标RCS测量精度的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115792413B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211505921.4，技术领域涉及：G01R29/10；该发明授权一种提升有源天线目标RCS测量精度的方法是由刘芳;白杨;吕鸣;侯浩浩设计研发完成，并于2022-11-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种提升有源天线目标RCS测量精度的方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种提升有源天线目标RCS测量精度的方法，涉及天线领域，包括对有源天线目标的电磁散射原理进行研究，分析单端口有源天线的散射特性；对天线模式项进行分析，研究其对整体结构项散射的影响；本发明具有提出一种提升有源天线目标RCS测量精度的方法，通过对传统的有源天线目标的RCS数据测试方法的误差分析，去除模式项对结构项散射的影响，得到更精确的散射测量数据的优点。
本发明授权一种提升有源天线目标RCS测量精度的方法在权利要求书中公布了：1.一种提升有源天线目标RCS测量精度的方法，其特征在于：包括以下步骤， Ⅰ.单端口有缘天线的散射特性分析，具体为： 在天线的馈电端口处任意取一个横截面S1，在距天线r＝r0处选取一个封闭曲线作为包围天线S2，通过分析得到天线的总散射场ESZi为： ESZi＝ESZc+EaZi 其中ESZc为结构项散射场，表示天线与负载完全匹配使的散射场； EaZi为天线模式散射场，表示当接收机端接任意负载的情况下一部分入射波被吸收，另一部分入射波被反射，然后经天线重新辐射回自由空间而产生的散射场； Ⅱ.有源天线的结构项散射场提取，得到： 其中，Zin为天线的输入抗阻，Zc为传输线的特征抗阻； T1为终端反射系数。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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