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龙图腾网获悉重庆华渝电气集团有限公司申请的专利一种提升光纤陀螺中光纤环排纤均匀性的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115717903B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211472576.9，技术领域涉及：G01C25/00；该发明授权一种提升光纤陀螺中光纤环排纤均匀性的方法是由陈来柱;何昆设计研发完成，并于2022-11-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种提升光纤陀螺中光纤环排纤均匀性的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种提升光纤陀螺中光纤环排纤均匀性的方法，包括如下步骤：1获得光纤环绕制张力T与层间光纤间距L1的数学模型：L1＝0.8738T2‑12.699T+66.018；2在光纤环绕环工装的槽底设置螺旋槽；3以间距L2为层内光纤间距，根据步骤2中的数学模型，计算得到所需的绕制张力；4按照四极对称方式进行光纤绕制，绕制张力值采用步骤3中计算得出的张力值，绕制完成后将光纤环表面固化；5对固化后的光纤环进行加热、旋转处理，最终完成光纤环的绕制。本发明提升了光纤环内光纤各个方向上的间距一致性，能够显著地提升光纤环光纤排列的均匀性。

本发明授权一种提升光纤陀螺中光纤环排纤均匀性的方法在权利要求书中公布了：1.一种提升光纤陀螺中光纤环排纤均匀性的方法，其特征在于：包括如下步骤： 1在不同绕制张力T下绕制光纤环，绕制完成后，对各绕制完成的光纤环，在光纤环剖面测量层间光纤间距L1，获得光纤环绕制张力T与层间光纤间距L1的数学模型： L1＝0.8738T2-12.699T+66.018； 其中：L1为层间光纤间距；T为光纤环绕制张力； 其中，按照四极对称绕制方法，在最小值为4g，最大值为7.5g的张力区间，以0.5g为张力增量，在不同张力绕制长度为600米的光纤环，固化完成后，将光纤环剖开，使用光学显微镜在光纤环剖面上测量层间光纤间距L1的平均值，最后根据绕制张力和层间光纤间距L1的平均值的关系拟合出所述数学模型； 2在光纤环绕环工装的槽底设置断面呈圆弧形的螺旋槽，所述螺旋槽沿绕环工装的轴向延伸并绕设在绕环工装槽底，螺旋槽的相邻圈之间的间距为L，其中，L＜L1； 3以间距L2为层内光纤间距，并使L2＝L1，根据步骤2中的数学模型，计算得到所需的绕制张力； 4按照四极对称方式进行光纤绕制，其中，绕制张力值采用步骤3中计算得出的张力值，绕制完成后将光纤环表面固化；固化过程中，转速为30rpm，转动角为1080度； 5对固化后的光纤环进行加热、旋转处理，最终完成光纤环的绕制；其中，加热温度不低于50℃，转速为5rpm，处理时间不少于12h。

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