同济大学吴成梁获国家专利权
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龙图腾网获悉同济大学申请的专利基于地质构造约束的梯度正则化方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116148923B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211346465.3，技术领域涉及：G01V1/30；该发明授权基于地质构造约束的梯度正则化方法及系统是由吴成梁;王华忠;冯波;许荣伟;盛燊设计研发完成，并于2022-10-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于地质构造约束的梯度正则化方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了基于地质构造约束的梯度正则化方法及系统，包括：输入背景速度模型进行偏移成像，获得偏移成像剖面；提取所述偏移成像剖面上的反射结构信息；采用倾角扫描和相似系数的方式计算反射结构处的倾角信息；在层位与层位之间，采用散乱数据插值方法，获得整个偏移成像剖面的倾角信息；计算方差大小和各向异性高斯函数；构建沿着地质方向的光滑算子并施加正则化；输出正则化结果。本发明可灵活地选择反射结构信息，在反射层位及层位间施加地质结构平滑，适应于反演的不同阶段，且本发明稳健，对噪音适应性强。本发明还可有效改善速度反演的收敛性和精度，显著提升反演结果的中波数成分，获得具有地质意义的速度模型。
本发明授权基于地质构造约束的梯度正则化方法及系统在权利要求书中公布了：1.基于地质构造约束的梯度正则化方法，其特征在于：包括， 输入背景速度模型进行偏移成像，获得偏移成像剖面； 提取所述偏移成像剖面上的反射结构信息； 采用倾角扫描和相似系数的方式计算反射结构处的倾角信息； 以选择的反射结构为已知散乱点，在层位与层位之间，采用散乱数据插值方法，获得整个偏移成像剖面的倾角信息，具体包括： 构建插值基线性方程组如下： 其中，xi＝zi,xi为已知的层位构造处的位置，x为待插值点， 为插值基函数，θx为倾角值，λi为插值系数； 求解所述线性方程组，获得插值系数，并在地层与地层的两个构造间进行散乱数据插值，获得整个偏移成像剖面的倾角信息； 根据偏移成像剖面的结构点和非结构点计算方差大小； 根据方差大小计算各向异性高斯函数； 构建沿着地质方向的光滑算子并施加正则化； 输出正则化结果。
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