中国电子技术标准化研究院陈梅双获国家专利权
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龙图腾网获悉中国电子技术标准化研究院申请的专利用于集成电路电磁兼容测试的模拟信号监测系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115453247B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211200536.9，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权用于集成电路电磁兼容测试的模拟信号监测系统及方法是由陈梅双;项道才;叶畅;朱赛;付君;王酣;崔强设计研发完成，并于2022-09-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于集成电路电磁兼容测试的模拟信号监测系统及方法在说明书摘要公布了：本发明涉及集成电路电磁抗扰度测试信号的监测领域，具体涉及一种用于集成电路电磁兼容测试的模拟信号监测系统及方法。本发明通过参考信号生成单元获得参考模拟信号和参考数字信号；通过模拟信号采集单元对集成电路芯片进行电磁兼容测试的被测模拟信号进行采样，并转化为被测数字信号；通过校准单元对参考数字信号进行自校准以及根据采集的被测模拟信号正常状态时的采样值对参考数字信号进行校准；通过模拟信号比较单元和数字信号比较单元两级比较单元，比较被测信号和参考信号，对异常进行判断；通过数字信号分析单元对被测数字信号进行实时监测和分析，自动判定集成电路芯片的抗扰度能力等级。
本发明授权用于集成电路电磁兼容测试的模拟信号监测系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种用于集成电路电磁兼容测试的模拟信号监测系统，其特征在于，所述系统包括：参考信号生成单元、模拟信号采样单元、校准单元、模拟信号比较单元、数字信号分析单元和数字信号比较单元； 所述参考信号生成单元，用于生成参考模拟信号；还用于将参考模拟信号转化为参考数字信号； 所述模拟信号采样单元，用于对集成电路芯片进行电磁兼容测试的被测模拟信号进行采样，并传输到模拟信号比较单元，同时将被测模拟信号转化为被测数字信号，并传输到数字信号比较单元； 所述校准单元，用于对生成的参考数字信号进行自校准以及根据采集的被测模拟信号的正常状态值对参考数字信号进行校准； 所述模拟信号比较单元，用于比较被测模拟信号和参考模拟信号，进而判断集成电路芯片的异常； 所述数字信号比较单元，用于比较被测数字信号和参考数字信号，进而对异常进行分析； 所述数字信号分析单元，用于对被测数字信号进行实时监测和分析，进而判定集成电路芯片的抗扰度能力等级。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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