中国科学院长春光学精密机械与物理研究所吕金光获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利数字微镜阵列光谱仪及其测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115219027B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210816090.6，技术领域涉及：G01J3/45；该发明授权数字微镜阵列光谱仪及其测量方法是由吕金光;梁静秋;赵莹泽;郑凯丰;赵百轩;陶金;王惟彪;秦余欣设计研发完成，并于2022-07-12向国家知识产权局提交的专利申请。
本数字微镜阵列光谱仪及其测量方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种数字微镜阵列光谱仪及其测量方法，其中的光谱仪包括：光源系统、分束系统、第一数字微镜阵列、第二数字微镜阵列和探测器系统；光源系统用于发出一束平行光束入射至分束系统中；分束系统用于将平行光束分为互相垂直的第一光束和第二光束；第一光束和第二光束分别经过第一数字微镜阵列和第二数字微镜阵列的反射后形成两束被分割为M×M个区域且相邻区域之间具有光程差的反射光束；两束反射光束再次返回至分束系统中进行合束并发生干涉后形成包括M×M个干涉光场单元的干涉光束入射至探测器系统，得到干涉图像阵列进而获取平行光束的光谱信息。本发明提高了光谱探测的实时性，具有小型化、静态化、环境适应性强的特点。
本发明授权数字微镜阵列光谱仪及其测量方法在权利要求书中公布了：1.一种数字微镜阵列光谱仪，其特征在于，包括：光源系统、分束系统、第一数字微镜阵列、第二数字微镜阵列和探测器系统； 所述光源系统用于发出一束平行光束入射至所述分束系统中；所述分束系统用于将所述平行光束分为互相垂直的第一光束和第二光束；所述第一光束和第二光束分别经过所述第一数字微镜阵列和第二数字微镜阵列的反射后形成两束被分割为M×M个区域且相邻区域之间具有光程差的反射光束；所述两束反射光束再次返回至所述分束系统中进行合束并发生干涉后形成包括M×M个干涉光场单元的干涉光束入射至所述探测器系统，得到干涉图像阵列进而获取所述平行光束的光谱信息。
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