浙江华睿科技股份有限公司周赏获国家专利权
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龙图腾网获悉浙江华睿科技股份有限公司申请的专利一种倒角尺寸测量方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115060162B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210625277.8，技术领域涉及：G01B11/00；该发明授权一种倒角尺寸测量方法、装置、电子设备及存储介质是由周赏;杨秀青;刘羽;周璐;李铭设计研发完成，并于2022-06-02向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种倒角尺寸测量方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种倒角尺寸测量方法、装置、电子设备及存储介质，获取3D线激光相机采集的待处理图像，确定待处理图像中倒角轮廓上的每个初始端点之后，考确定该初始端点对应的校正区域，并得到该划分区域内的各条划分线；根据各条划分线上的第一像素点的平均灰度值和平均灰度梯度值，确定各条划分线的边界评分值，选取边界评分值最高的划分线作为该初始端点的倒角边界线；然后根据各个倒角边界线和倒角轮廓的拟合直线的交点，确定各个目标端点，最后根据目标端点进行倒角尺寸测量。本发明实施例通过对原始端点进行校正可以得到更准确的目标端点，目标端点准确保证了倒角尺寸测量的准确性。
本发明授权一种倒角尺寸测量方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种倒角尺寸测量方法，其特征在于，所述方法包括： 获取3D线激光相机采集的待处理图像，确定所述待处理图像中倒角轮廓上的每个初始端点； 针对所述每个初始端点，将以该初始端点为中心的矩形区域，或者正方形区域作为该初始端点对应的校正区域，并将该校正区域进行划分，得到该划分区域内的各条划分线；根据所述各条划分线上的第一像素点的平均灰度值和平均灰度梯度值，确定所述各条划分线的边界评分值，选取所述边界评分值最高的划分线作为该初始端点的倒角边界线； 确定所述倒角轮廓的拟合直线，根据各个倒角边界线和所述倒角轮廓的拟合直线的交点，确定各个目标端点；根据所述各个目标端点进行倒角尺寸测量。
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