中国电子科技集团公司第三十研究所何远杭获国家专利权
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龙图腾网获悉中国电子科技集团公司第三十研究所申请的专利一种用于硬件木马检测的工艺偏差测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114386109B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111589564.X，技术领域涉及：G06F21/71；该发明授权一种用于硬件木马检测的工艺偏差测量方法是由何远杭;倪奕;巫忠跃;陈雷;王钰瑶;刘洁;倪思源设计研发完成，并于2021-12-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于硬件木马检测的工艺偏差测量方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种用于硬件木马检测的工艺偏差测量方法，包括：步骤1、选定时序路径；步骤2、针对选定时序路径，获取测试激励；步骤3、获取该路径正常工作的最小时钟周期，最小时钟周期对应该路径的最大延迟；步骤4、根据该路径的最大延迟，结合工艺库信息，通过蒙特卡洛分析和仿真获得该路径的工艺偏差；步骤5、重复步骤1‑4获取芯片所有路径的工艺偏差，等效工艺偏差分布为正态分布，从而获得整个芯片的工艺偏差分布情况。本发明的方案利用芯片中功能固有的时序路径，不需要增加过多的测试逻辑就能实现测量工艺偏差，降低了芯片的面积和成本开销。
本发明授权一种用于硬件木马检测的工艺偏差测量方法在权利要求书中公布了：1.一种用于硬件木马检测的工艺偏差测量方法，其特征在于，包括： 步骤1、选定时序路径； 步骤2、针对选定时序路径，获取测试激励； 步骤3、获取该路径正常工作的最小时钟周期，最小时钟周期对应该路径的最大延迟； 步骤4、根据该路径的最大延迟，结合工艺库信息，通过蒙特卡洛分析和仿真获得该路径的工艺偏差； 步骤5、重复步骤1-4获取芯片所有路径的工艺偏差，等效工艺偏差分布为正态分布，从而获得整个芯片的工艺偏差分布情况； 所述步骤2具体过程为：选用正常工作时钟周期，通过时钟信号的控制和扫描寄存器确定使该路径输出寄存器翻转的输入激励和相应时刻信息； 所述步骤3具体为：按步长减小时钟周期，检测所测试的时序路径第一次不能正常工作的时钟周期，从而得出可以正常工作的最小时钟周期。
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