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龙图腾网获悉清华大学申请的专利透射率的测量方法、装置、系统及计算机可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120028012B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510499034.8，技术领域涉及：G01M11/00；该发明授权透射率的测量方法、装置、系统及计算机可读存储介质是由池志豪;叶继来;梅树尧;赵雅娟;陈文兰设计研发完成，并于2025-04-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本透射率的测量方法、装置、系统及计算机可读存储介质在说明书摘要公布了：本公开涉及光学技术领域，尤其涉及一种透射率的测量方法、装置、系统及计算机可读存储介质。方法包括：获取光学腔在第一状态下的反射率随光的频率变化的第一曲线、以及光学腔在第二状态下的反射率随光的频率变化的第二曲线；根据第一曲线的半峰宽确定光学腔在第一状态下的光功率衰减参量的第一值；根据第二曲线的半峰宽确定光学腔在第二状态下的光功率衰减参量的第二值；获取光学腔的反射率与光的频率、光学腔的光功率衰减参量、光与光学腔的耦合效率、以及第一反射镜的透射率之间的关联公式；根据关联公式、第一曲线、第一值、第二曲线、以及第二值，拟合得到第一反射镜的透射率的值。本公开可以更准确地测量光学腔中反射镜的透射率。

本发明授权透射率的测量方法、装置、系统及计算机可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种透射率的测量方法，其特征在于，包括： 获取光学腔在第一状态下的反射率随光的频率变化的第一曲线、以及所述光学腔在第二状态下的反射率随光的频率变化的第二曲线，其中，光从所述光学腔的第一反射镜进入所述光学腔，在所述第一状态下，所述光学腔中存在第一遮光物，在所述第二状态下，所述光学腔中不存在遮光物或存在第二遮光物，所述第二遮光物的形状和位置中的至少一项与所述第一遮光物不同； 根据所述第一曲线的半峰宽确定所述光学腔在所述第一状态下的光功率衰减参量的第一值； 根据所述第二曲线的半峰宽确定所述光学腔在所述第二状态下的光功率衰减参量的第二值，所述第二值与所述第一值不同； 获取所述光学腔的反射率与光的频率、所述光学腔的光功率衰减参量、光与所述光学腔的耦合效率、以及所述第一反射镜的透射率之间的关联公式；以及 根据所述关联公式、所述第一曲线、所述第一值、所述第二曲线、以及所述第二值，拟合得到所述第一反射镜的透射率的值； 获取所述关联公式包括： 获取光入射到所述第一反射镜后，未与所述光学腔耦合的部分对应的第一反射率R1与耦合效率Ck之间的第一关联公式； 获取光入射到所述第一反射镜后，与所述光学腔耦合的部分对应的第二反射率R2与光的频率f、所述光学腔的光功率衰减参量R’ round、所述耦合效率Ck、以及所述第一反射镜的透射率tk之间的第二关联公式；以及 根据所述第一关联公式和所述第二关联公式，确定所述关联公式。

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