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龙图腾网获悉成都沃特塞恩电子技术有限公司申请的专利晶体生长厚度实时在线测量方法、装置、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119915190B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510408804.3，技术领域涉及：G01B11/06；该发明授权晶体生长厚度实时在线测量方法、装置、设备及介质是由季宇;李俊宏;韦明勉设计研发完成，并于2025-04-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本晶体生长厚度实时在线测量方法、装置、设备及介质在说明书摘要公布了：本发明涉及一种晶体生长厚度实时在线测量方法、装置、设备及介质，包括获取晶体生长过程中每一生长周期内拍摄到的第一图像；在生长周期的第一张第一图像中以覆盖第一视角方向上所有晶体为目标构建第一标定框，将第一标定框内任一晶体的中心位置标定为第一晶体中心位置；根据第一晶体中心位置处像素的三原色信息确定各原色的原色取值区间；根据第一标定框和原色取值区间确定图像视觉属性的参数取值，得到目标参数取值，根据目标参数取值调整图像视觉属性得到第一目标图像；根据钼台预设厚度、第一目标图像中处于预设固定搜索区域的目标区域图像和处于第一标定框内的晶体中每一列的晶体上边缘到晶体下边缘之间的晶体像素个数得到第一在线测量厚度。

本发明授权晶体生长厚度实时在线测量方法、装置、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种晶体厚度实时在线测量方法，其特征在于，所述方法包括： 获取在晶体生长过程中每一生长周期内第一相机拍摄到的第一图像，所述第一相机与真空反应腔第一视角方向上的第一观察窗口对应设置； 在每一所述生长周期的第一张所述第一图像中，以至少覆盖所述第一视角方向上所有的所述晶体为目标，构建第一标定框，将所述第一视角方向上所述第一标定框内任一所述晶体的中心位置标定为第一晶体中心位置； 获取在所述晶体生长过程中每一生长周期对应的所述第一晶体中心位置处像素的三原色信息，并根据所述第一晶体中心位置处像素的所述三原色信息，确定各原色的原色取值区间； 根据所述第一标定框和各所述原色的所述原色取值区间，确定所述第一图像对应的图像视觉属性的参数取值，得到所述图像视觉属性的目标参数取值，根据所述目标参数取值，调整对应所述生长周期内所有所述第一图像的图像视觉属性，得到第一目标图像； 根据钼台的预设厚度、所述第一目标图像中处于预设固定搜索区域的目标区域图像以及所述第一目标图像中处于所述第一标定框内的所述晶体中每一列的晶体上边缘到晶体下边缘之间的晶体像素个数，得到在所述第一视角方向下在线测量的每一所述晶体的第一在线测量厚度； 其中，所述根据所述第一标定框和各所述原色的所述原色取值区间，确定所述第一图像对应的图像视觉属性的参数取值，得到所述图像视觉属性的目标参数取值，包括： 以所述图像视觉属性的预设初始值为起点，按照预设步长，逐次调整所述图像视觉属性的参数取值； 在每一次所述参数取值调整后，统计所述第一标定框覆盖范围内三原色处于各所述原色的所述原色取值区间的像素的个数； 将所述个数最多对应的所述参数取值确定为所述图像视觉属性的目标参数取值。

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