合肥康芯威存储技术有限公司余玉获国家专利权
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龙图腾网获悉合肥康芯威存储技术有限公司申请的专利一种存储测试装置及其测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119889411B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510368746.6，技术领域涉及：G11C29/14；该发明授权一种存储测试装置及其测试方法是由余玉;许展榕设计研发完成，并于2025-03-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种存储测试装置及其测试方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种存储测试装置及其测试方法，装置包括：控制模块；验证运行芯片，与控制模块和被测设备电性连接，验证运行芯片根据控制模块提供的配置信息，获取被测设备的测试数据；硬件监控模块，在被测设备的测试进程中，同步采集和校验被测设备的工作信号；分析单元，集成在硬件监控模块中或控制模块中，并抓取工作信号中的异常信号，在出现异常信号时，控制模块冻结芯片状态并锁定被测设备的现场数据，且控制模块解析现场数据和测试数据后，生成异常分析链路；故障定位单元，集成在控制模块中，根据异常分析链路，获取被测设备的异常位置；更新对硬件监控模块的配置信息，循环测试直到完成对被测设备的全场景全功能覆盖测试。
本发明授权一种存储测试装置及其测试方法在权利要求书中公布了：1.一种存储测试装置，其特征在于，包括： 控制模块； 验证运行芯片，与所述控制模块和被测设备电性连接，所述验证运行芯片根据所述控制模块提供的配置信息，获取所述被测设备的测试数据； 硬件监控模块，与所述验证运行芯片和所述被测设备电性连接，并在所述被测设备的测试进程中，同步采集和校验被测设备的工作信号； 分析单元，集成在所述硬件监控模块中或所述控制模块中，并抓取所述工作信号中的异常信号，在出现所述异常信号时，所述控制模块冻结芯片状态并锁定所述被测设备的现场数据，且所述控制模块解析所述现场数据和所述测试数据后，生成异常分析链路；以及 故障定位单元，集成在所述控制模块中，根据所述异常分析链路，获取所述被测设备的异常位置； 其中，更新对所述硬件监控模块的配置信息，并循环测试，直到完成对被测设备的全场景全功能覆盖测试。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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