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龙图腾网获悉奥谱天成(厦门)光电有限公司申请的专利一种增强稳定性的颗粒样本透射式近红外分析方法、介质和设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119804385B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510249940.2，技术领域涉及：G01N21/359；该发明授权一种增强稳定性的颗粒样本透射式近红外分析方法、介质和设备是由刘鸿飞;黄晓晓;阮曲星设计研发完成，并于2025-03-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种增强稳定性的颗粒样本透射式近红外分析方法、介质和设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种增强稳定性的颗粒样本透射式近红外分析方法、介质和设备，包括以下步骤：S1：入射光经过聚焦准直，通过增透膜玻璃挡板和样本后由16根光纤接收透射能量；S2：伺服电机控制挡板与光纤搭载平面挡板之间的距离H，分别在1.5cm和2cm下采集光谱；S3：收光光纤均匀排列，测量内外圈收光光纤能量强度；S4：变积分时间采样，用50ms和200ms积分时间采集光谱。通过优化打光和收光，消除样本密度和光源强度变化引起的光谱偏移，解决CCD均匀性差异问题，增强模型适应性。

本发明授权一种增强稳定性的颗粒样本透射式近红外分析方法、介质和设备在权利要求书中公布了：1.一种增强稳定性的颗粒样本透射式近红外分析方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：入射光经过聚焦准直，光斑尺寸缩小，强度增加，透过增透膜玻璃挡板和样本后打在光纤搭载平面挡板上，由上面的N根光纤接收透射能量,其中N为16； S2：伺服电机控制玻璃挡板横向移动控制玻璃挡板和光纤搭载平面挡板之间的距离H，每个样本将在距离h1和距离h2下各进行一次光谱采集，其中h1和h2之间的差值为0.5cm，且h1、h2均在2-3cm范围内以0.5cm的梯度选定； S3：收光光纤为在距检测中心半径r1和r2的两个圆周上的16根均匀排列的光纤，内外圈收光光纤各8根，内外圈收光光纤能量强度分别为i_n和i_w，其中，r1和r2之间的差值为0.5cm，且r1、r2均在20mm范围内选定； S4：光谱仪采用变积分时间采样，底部转轮控制下料，每转一格停顿3～5秒后依次用50ms和200ms积分时间采集光谱； 还包括：定义建模样本集数量为m，光谱波段数为b，自变量光谱矩阵为 X0（m,2b）,因变量为Y0m,1，则X0为尺寸的矩阵，Y0为尺寸的矩阵，并包括以下每个样本的采集步骤： S5：将挡板距离H调到h1； S6：倒入300ml样本，底部转轮控制下料，每转一格停顿3秒后依次用50ms和200ms积分时间采集光谱，50ms下的所述内外圈收光光纤接收能量分别为I50_n和I50_w,200ms下的所述内外圈收光光纤接收能量分别为I200_n和I200_w； S7：光谱波段拼接，计算I200_n未饱和区间光谱和I50_n对应光谱区间的比值平均值ka，对于I200_n的饱和区间，I50_n在对应区间光谱乘以ka，从而抬高50积分时间的光谱代替200积分时间下的饱和部分，得到I_n，同样的方法得到I_w； S8：计算k=I_nI_w，得到本次的相对透射光谱k，同样的方法，继续转动底部转轮，重复20次以上步骤，保存20次相对透射光谱k的平均值为Ki1为当前样本在H为h1的光谱，i为当前样本序号； S9：将挡板距离H调到h2，重复S6-8步骤，得到当前样本在H为h2的光谱Ki2； S10：将K1K2光谱矩阵合并，得到当前样本的最终光谱Ai=[Ki1,Ki2]。

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