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龙图腾网获悉深圳市控净滤材新技术有限公司申请的专利一种银基复合滤芯中银含量检测方法和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119310144B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411576809.9，技术领域涉及：G01N27/04；该发明授权一种银基复合滤芯中银含量检测方法和系统是由杨建伟;邢百惠;郝伟设计研发完成，并于2024-11-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种银基复合滤芯中银含量检测方法和系统在说明书摘要公布了：本发明涉及含量检测技术领域，特别涉及一种银基复合滤芯中银含量检测方法和系统。本发明通过获取银基纤维的三维图像，并根据三维图像获取银的分布占比值，通过获取银基纤维的几何特征信息，并根据几何特征信息、分布占比值和初始综合电阻率获取银的实际电阻值，通过结合几何特征信息、分布占比值和综合电阻率，可以进行综合分析，得到更准确的银含量信息，通过获取银基纤维的当前温度，并根据当前温度、初始温度值和银的实际电阻值计算银的当前电导率，由于电导率受温度影响显著，通过考虑当前温度和初始温度值，可以对电导率进行温度补偿，确保计算的电导率更准确地反映银的实际含量。

本发明授权一种银基复合滤芯中银含量检测方法和系统在权利要求书中公布了：1.一种银基复合滤芯中银含量检测方法，其特征在于，包括： 获取银基纤维的初始温度值和初始综合电阻率； 获取银基纤维的三维图像，并根据所述三维图像获取银的分布占比值； 获取银基纤维的几何特征信息，并根据所述几何特征信息获取银基纤维的长度和银基纤维的截面积； 根据所述银基纤维的长度、银基纤维的截面积和初始综合电阻率计算银基纤维的综合电阻值，其中，计算公式为： 其中，ZD表示银基纤维的综合电阻值，CZ表示初始综合电阻率，CD表示银基纤维的长度，JM表示银基纤维的截面积； 根据所述银基纤维的综合电阻值和分布占比值计算银的实际电阻值，其中，计算公式为： SD＝ZD*FZ； 其中，SD表示银的实际电阻值，ZD表示银基纤维的综合电阻值，FZ表示分布占比值； 获取银基纤维的当前温度，并获取银基纤维的温度系数； 根据所述温度系数、当前温度、初始温度值和银的实际电阻值计算银的当前电阻值，其中，计算公式为： R＝β*SD*[1+α*T-t]； 其中，R表示银的当前电阻值，β表示模型参数，a表示温度系数，SD表示银的实际电阻值，T表示当前温度，t表示初始温度值； 根据所述几何特征信息获取银基纤维的长度和银基纤维的截面积； 获取当前电阻值，并根据当前电阻值、银基纤维的长度和银基纤维的截面积计算银的当前电导率，其中，计算公式为： 其中，DL表示银的当前电导率，DC表示当前电阻值，CD表示银基纤维的长度，JM表示银基纤维的截面积； 获取银含量-电导率的关系曲线图，并根据所述关系曲线图和银的当前电导率获取银含量。

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