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龙图腾网获悉深圳极特半导体技术有限公司申请的专利一种基于数据分析的电源IC自检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119291462B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411461179.0，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种基于数据分析的电源IC自检测方法及系统是由陈慧明设计研发完成，并于2024-10-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于数据分析的电源IC自检测方法及系统在说明书摘要公布了：本申请涉及电源故障检测技术领域，具体涉及一种基于数据分析的电源IC自检测方法及系统，该方法包括：采集电源IC充电过程中各时刻的充电功率、电量、温度、电压、电流；基于各时刻的电量与邻近时刻的电量的差异，结合各时刻的充电功率，确定各时刻的电能消耗程度；分析各时刻的局部时间窗口内所有所述电能消耗程度的变化趋势，确定各时刻的第一温度影响系数；基于各时刻的电量，确定各时刻的第二温度影响系数；结合所述第一温度影响系数与所述第二温度影响系数，得到各时刻的综合温度影响系数，结合所述温度、电压、电流，以及时间序列预测模型，对电源IC进行检测。从而提高对电源IC的检测准确度。

本发明授权一种基于数据分析的电源IC自检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于数据分析的电源IC自检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤： 采集电源IC充电过程中各时刻的充电功率、电源电量、电源温度、充电电压、充电电流； 基于各时刻的电量与邻近时刻的电量的差异，结合各时刻的充电功率，确定各时刻的电能消耗程度； 分析各时刻的局部时间窗口内所有所述电能消耗程度的变化趋势，确定各时刻的第一温度影响系数；基于各时刻的电量，确定各时刻的第二温度影响系数； 结合所述第一温度影响系数与所述第二温度影响系数，得到各时刻的综合温度影响系数，结合所述温度、充电电压、充电电流，以及时间序列预测模型，对电源IC进行检测； 所述对电源IC进行检测，包括： 将当前时刻及之前预设数量个时刻的温度数据组成当前时刻的温度数据序列，作为时间序列预测模型的输入，分别将当前时刻及之前预设数量个时刻的充电电压、充电电流、综合温度影响系数的归一化结果对应组成当前时刻的电压序列、电流序列、综合温度影响系数序列，作为时间序列预测模型的外生变量，时间序列预测模型的输出为下一时刻的温度预测值； 基于所述温度预测值对电源IC进行检测； 若所述温度预测值大于等于预设温度阈值，则启动电源IC的过温保护机制，否则，继续充电。

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