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龙图腾网获悉广东科技学院申请的专利定位微流控生物芯片所有磁头点样点的方法、系统及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116228856B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310028926.0，技术领域涉及：G06T7/73；该发明授权定位微流控生物芯片所有磁头点样点的方法、系统及设备是由黄桂花;韩定观;刘肃平设计研发完成，并于2023-01-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本定位微流控生物芯片所有磁头点样点的方法、系统及设备在说明书摘要公布了：本发明属于图像处理技术领域，公开了定位微流控生物芯片所有磁头点样点的方法、系统及设备。所述方法包括：获取生物芯片点样后的灰度图源图存放到磁盘指定目录下，加载到内存中进行后期处理，得到磁头点样区域和线路背景分离的第一次处理图，并生成模板灰度图；对所述第一次处理图利用归一化相关匹配法进行模板匹配得到结果矩阵dstmat；再经过多目标定位处理，得到各磁头中心点位置，记录在一个列表或数组中；循环获取列表或数组中各磁头中心点坐标，判断是否存在异常坐标点，确定芯片是否进行后续的缺陷检测。本发明更快更准确地对微流控生物芯片进行后续的缺陷检测，为实现点样芯片质量的自动化检测提供了有效的方法。

本发明授权定位微流控生物芯片所有磁头点样点的方法、系统及设备在权利要求书中公布了：1.一种定位微流控生物芯片所有磁头点样点的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤： S1，驱动机械臂上固定的高清定焦微距广角镜头和摄像头获取生物芯片点样后的灰度图源图存放到磁盘指定目录下，加载到内存中进行后期处理，得到磁头点样区域和线路背景分离的第一次处理图，并生成模板灰度图； S2，对所述第一次处理图利用归一化相关匹配法进行模板灰度图匹配得到结果矩阵dstmat； S3，基于获得的结果矩阵dstmat，再经过多目标定位处理，得到各磁头中心点位置，记录在一个列表或数组中； S4，循环获取列表或数组中各磁头中心点坐标，判断是否存在异常坐标点，确定芯片是否进行后续的缺陷检测； 在步骤S3中，多目标定位处理的方法包括： 步骤S301，创建mask矩阵区域，mask区域和矩阵dstmat的高度、宽度相同，且区域内全为白色； 步骤S302，查找第一个匹配点坐标，采用OpenCV模块中的MinMaxLoc方法，在矩阵dstmat的mask区域的白色区域内寻找最大最小值，查找到的最大值所在位置为第一个匹配到模板的磁头区域起始坐标； 步骤S303，将当前磁头中心点坐标添加到列表或数组中，在二值化图中绘制当前匹配到的模板区域，当前匹配到的模板区域为矩形区域，该矩形的中心点坐标为当前磁头中心点坐标，矩形的宽度为模板灰度图的宽度，高度为模板灰度图的高度； 步骤S304，改变mask区域内白色区域范围，在mask区域内计算需要设置为黑色区域的矩形，此矩形以步骤S302得到的当前磁头中心点为中心，以模板灰度图的两倍宽度为宽度，以模板灰度图的两倍高度为高度，将此矩形区域内的颜色设置为黑色，设定为黑色矩形区域； 步骤S305，查找下一个匹配点坐标，采用OpenCV模块中的MinMaxLoc方法，在矩阵dstmat的mask区域的白色区域内寻找最大最小值，查找到的最大值所在位置为下一个匹配到模板的磁头区域起始坐标； 步骤S306，循环步骤S303至步骤S305，直到循环次数达到设定的芯片磁头个数减1； 在步骤S4中，如果存在异常坐标点，芯片中存在点样不完全或点样点区域有明显异物的磁头，则该芯片不进行后续的缺陷检测，直接显示有缺陷；如果不存在异常坐标点，则需要将得到的第一次处理图和灰度图源图，输入到后续的缺陷检测模块。

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