上海正先电子科技有限公司李嵩获国家专利权
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龙图腾网获悉上海正先电子科技有限公司申请的专利基于图像分析的LCD系统故障检测系统及方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120107266B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-01发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510592752.X,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权基于图像分析的LCD系统故障检测系统及方法是由李嵩;李善勇;肖婷;邵永伟;黄宝聚设计研发完成,并于2025-05-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于图像分析的LCD系统故障检测系统及方法在说明书摘要公布了:本申请涉及智能检测领域,提供了一种基于图像分析的LCD系统故障检测系统及方法,其首先获取高分辨率工业相机采集的LCD面板图像,接着对该图像进行同态滤波和CLAHE对比度增强处理以得到增强LCD面板图像,然后对增强后的图像开展多尺度特征增强融合以获得LCD面板图像多尺度融合特征图,之后对该特征图基于Mura分割区域进行统计分析以得到Mura区域统计特征编码向量,最后依据此编码向量,得出Mura缺陷识别结果。这样,能够更准确地捕获Mura缺陷的特征,减少因光源、噪声等干扰因素导致的误判和漏检,提高了对Mura缺陷的检测精度,同时检测系统能够适应不同的生产条件,保证检测结果的稳定性。
本发明授权基于图像分析的LCD系统故障检测系统及方法在权利要求书中公布了:1.一种基于图像分析的LCD系统故障检测方法,其特征在于,包括: 获取由高分辨率工业相机采集的LCD面板图像; 对所述LCD面板图像进行同态滤波和CLAHE对比度增强以得到增强LCD面板图像; 对所述增强LCD面板图像进行多尺度特征增强融合以得到LCD面板图像多尺度融合特征图,包括:对所述增强LCD面板图像进行小波分解和特征提取以得到低频近似子带特征图、水平方向细节子带特征图、垂直方向细节子带特征图和对角方向细节子带特征图;对所述低频近似子带特征图、所述水平方向细节子带特征图、所述垂直方向细节子带特征图和所述对角方向细节子带特征图进行基于空间-语义双维度的特征增强融合处理以得到所述LCD面板图像多尺度融合特征图,其中,对低频近似子带特征图进行随机扫描,获取覆盖不同亮度分布区域的参考向量的集合,通过庞加莱距离度量待增强特征向量与各参考向量在双曲空间中的层次化关联,构建空间调制参数矩阵以量化空间相关性强度;计算待增强特征与参考向量间的隐性语义关联,生成语义关联编码矩阵,通过语义关联编码矩阵作为基础掩码调控组件对参考向量进行语义层面的筛选,再以空间调制度矩阵作为次级掩码调控组件实施空间相关性调制; 对所述LCD面板图像多尺度融合特征图进行基于Mura分割区域的统计分析以得到Mura区域统计特征编码向量; 基于所述Mura区域统计特征编码向量,得到Mura缺陷识别结果。
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