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龙图腾网获悉北京东方华盛科技有限公司申请的专利小分子聚硅孔喉疏通剂成品质量检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119985585B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510450614.8，技术领域涉及：G01N23/2251；该发明授权小分子聚硅孔喉疏通剂成品质量检测方法及系统是由黄亚玲;张维祥;黄兰;吕嘉鑫设计研发完成，并于2025-04-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本小分子聚硅孔喉疏通剂成品质量检测方法及系统在说明书摘要公布了：本申请的小分子聚硅孔喉疏通剂成品质量检测方法及系统，涉及人工智能技术领域，通过设置SEM图像采集参数，所述SEM图像采集参数包括放大倍数和分辨率，采集疏通前后不同尺度孔隙的SEM图像；根据SEM图像提取疏通前后的多尺度孔隙结构特征；根据SEM图像计算定量描述符，将多尺度孔隙结构特征与定量描述符进行特征拼接，得到综合孔隙结构表示；以综合孔隙结构表示为输入，基于疏通效果预测模型，预测疏通剂质量检测的定性指标和定量指标，提高了小分子聚硅孔喉疏通剂成品质量检测的精度。

本发明授权小分子聚硅孔喉疏通剂成品质量检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.小分子聚硅孔喉疏通剂成品质量检测方法，其特征在于，包括： 设置SEM图像采集参数，所述SEM图像采集参数包括放大倍数和分辨率，采集疏通前后不同尺度孔隙的SEM图像； 根据SEM图像提取疏通前后的多尺度孔隙结构特征； 计算定量描述符，将多尺度孔隙结构特征与定量描述符进行特征拼接，得到综合孔隙结构表示； 以综合孔隙结构表示为输入，基于疏通效果预测模型，预测疏通剂质量检测的定性指标和定量指标； 所述根据SEM图像提取疏通前后的多尺度孔隙结构特征的具体方法为： 对于微米级孔隙，基于Gabor滤波器提取疏通前后硅氧烷结构的局部纹理特征，所述Gabor滤波器的参数包括尺度参数、方向参数和频率参数； 对于介孔和大孔，通过形态学操作和区域分割算法提取其形态学特征和区域分割特征； 将微米级孔隙的局部纹理特征与介孔和大孔的形态学特征和区域分割特征采用特征拼接的方式进行融合，得到多尺度孔隙结构特征； 所述定量描述符包括比表面积、孔容和孔径分布； 所述疏通效果预测模型由多尺度卷积神经网络、注意力机制模块、孔隙结构演变建模模块和疏通效果预测模块构成。

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