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龙图腾网获悉深圳市识渊科技有限公司;北京识渊科技有限公司申请的专利缺陷检测光源的筛选方法、装置、设备和介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116205869B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310134745.6，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权缺陷检测光源的筛选方法、装置、设备和介质是由狄东林;茹彬鑫;曹峰;赵晨旭;季聪设计研发完成，并于2023-02-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本缺陷检测光源的筛选方法、装置、设备和介质在说明书摘要公布了：本申请属于缺陷检测技术领域，公开了缺陷检测光源的筛选方法、装置、设备和介质，其中方法包括：获取基准图像，计算基准图像的第一水平信息熵和第一竖直信息熵；获取多个光源图像，计算每个光源图像的光源水平信息熵和光源竖直信息熵；计算第一水平信息熵和每个光源水平信息熵的距离，得到多个水平距离；计算第一竖直信息熵和每个光源竖直信息熵的距离，得到多个竖直距离；筛选出最大水平距离和最大竖直距离，将最大水平距离对应的第一光源和最大竖直距离对应的第二光源作为目标光源组。上述筛选方法不需要对缺陷区域进行定位即可筛选出最佳的光源组合，使用目标光源组能够使得缺陷区域与背景区域的对比度较大，从而突出缺陷区域。

本发明授权缺陷检测光源的筛选方法、装置、设备和介质在权利要求书中公布了：1.一种缺陷检测光源的筛选方法，其特征在于，包括： 获取基准图像，所述基准图像为在标准环形光下拍摄得到的缺陷图像； 计算所述基准图像的第一水平信息熵和第一竖直信息熵； 获取多个光源图像，每个所述光源图像为在对应的光源的光线下拍摄得到的缺陷图像； 计算每个所述光源图像的光源水平信息熵和光源竖直信息熵； 计算所述第一水平信息熵和每个所述光源水平信息熵的距离，得到多个水平距离； 计算所述第一竖直信息熵和每个所述光源竖直信息熵的距离，得到多个竖直距离； 从多个所述水平距离中筛选出最大水平距离，从多个所述竖直距离中筛选出最大竖直距离，将所述最大水平距离对应的第一光源和所述最大竖直距离对应的第二光源作为目标光源组； 所述计算所述基准图像的第一水平信息熵和第一竖直信息熵，包括： 使用第一卷积核对所述基准图像进行卷积，得到水平卷积向量； 使用第二卷积核对所述基准图像进行卷积，得到竖直卷积向量； 对所述水平卷积向量的像素值进行概率统计，得到第一概率集合； 对所述竖直卷积向量的像素值进行概率统计，得到第二概率集合； 根据所述第一概率集合计算所述第一水平信息熵； 根据所述第二概率集合计算所述第一竖直信息熵； 所述对所述水平卷积向量的像素值进行概率统计，得到第一概率集合，包括： 根据以下公式计算第一概率： 其中，i为所述像素值，signal为所述水平卷积向量，L为所述水平卷积向量的长度，N为所述水平卷积向量中所述像素值为i的元素个数，p1为所述第一概率； 将所有所述第一概率组成所述第一概率集合； 所述根据所述第一概率集合计算所述第一水平信息熵，包括： 根据以下公式计算所述第一水平信息熵： 其中，为所述第一水平信息熵，p1为所述第一概率，P为所述第一概率集合，log为对数函数，为所述第一概率的倒数。

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