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龙图腾网获悉深圳禾思众成科技有限公司申请的专利一种基于工业模型辅助的HTCC陶瓷缺陷自动识别方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120232959B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510717366.9，技术领域涉及：G01N27/22；该发明授权一种基于工业模型辅助的HTCC陶瓷缺陷自动识别方法是由刘伟生;杨泽霖设计研发完成，并于2025-05-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于工业模型辅助的HTCC陶瓷缺陷自动识别方法在说明书摘要公布了：本发明涉及智能制造技术领域，尤其涉及一种基于工业模型辅助的HTCC陶瓷缺陷自动识别方法，包括，步骤1：实时采集HTCC生产过程中的烧结温度梯度、层压压力及生坯含水率工艺参数；步骤2：在产线传送带上对烧结后的HTCC基板进行非接触式介电性能扫描；步骤3：基于介电异常区域坐标，控制环形偏振光源以抑制金属化层反射的入射角度照射目标区域；步骤4：将介电异常频段特征向量与步骤3的缺陷图像纹理特征输入跨模态注意力网络，生成融合特征图；步骤5：建立缺陷类型与工艺偏离类型的关联映射库。通过精准的实时监控、智能化的缺陷识别与分类、自动化的工艺调整及持续优化的反馈机制，极大地提升了陶瓷生产过程的效率、质量和智能化水平。

本发明授权一种基于工业模型辅助的HTCC陶瓷缺陷自动识别方法在权利要求书中公布了：1.一种基于工业模型辅助的HTCC陶瓷缺陷自动识别方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1：实时采集HTCC生产过程中的烧结温度梯度、层压压力及生坯含水率工艺参数，通过长短期记忆网络构建工艺参数时空基线模型，动态计算当前参数与基线模型的偏离度，当偏离度超过基于产线历史稳定性数据自适应的动态阈值时，生成工艺偏离类型标签； 步骤2：在产线传送带上对烧结后的HTCC基板进行非接触式介电性能扫描，根据步骤1的工艺偏离类型标签动态选择介电扫描频段，通过谐振腔扰动法获取介电常数分布图，计算局部方差并标记介电异常区域坐标，将该坐标映射至光学检测坐标系； 步骤3：基于介电异常区域坐标，控制环形偏振光源以抑制金属化层反射的入射角度照射目标区域，根据介电扫描频段动态匹配近红外成像波长，通过背景差分法扣除正常区域光强，生成局部缺陷高对比度图像； 步骤4：将介电异常频段特征向量与步骤3的缺陷图像纹理特征输入跨模态注意力网络，生成融合特征图，根据工艺偏离类型标签激活对应的缺陷分类分支，采用对抗生成网络分离缺陷特征与工艺背景纹理，输出缺陷类型及严重度等级； 步骤5：建立缺陷类型与工艺偏离类型的关联映射库，当同一缺陷类型连续出现预设次数时，自动调整烧结炉温控参数，并通过数字孪生模型验证参数调整后的缺陷率变化，更新工艺偏离动态阈值，形成闭环反馈。

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