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龙图腾网获悉上海中科飞测半导体科技有限公司申请的专利一种异常区域筛选方法、装置、设备、介质及程序产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120088446B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510570509.8，技术领域涉及：G06V10/22；该发明授权一种异常区域筛选方法、装置、设备、介质及程序产品是由张龙;黄有为;陈鲁设计研发完成，并于2025-04-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种异常区域筛选方法、装置、设备、介质及程序产品在说明书摘要公布了：本申请提供一种异常区域筛选方法、装置、设备、介质及程序产品，对待选图像进行轮廓点提取处理，得到多个轮廓点，基于轮廓点确定轮廓点对应的目标点对，目标点对包括第一点和第二点，第一点和第二点分别位于轮廓点所在部分轮廓的两侧，将第一点的第一灰度和第二点的第二灰度进行灰度对比，得到目标点对的第一对比结果。由于真实的异常区域与其外围的灰度差异会更大，而虚假的异常区域与其外围的灰度差异会小一些，则在满足预设数量的第一对比结果都标识第一灰度与第二灰度的差异达到预设差异时，说明大部分的轮廓点的内外侧的灰度差异都足够大，准确说明待选区域为异常区域，避免将虚假的异常区域误检为异常区域，提高了异常区域筛选的准确性。

本发明授权一种异常区域筛选方法、装置、设备、介质及程序产品在权利要求书中公布了：1.一种异常区域筛选方法，其特征在于，包括： 对待选图像进行轮廓点提取处理，得到多个轮廓点；所述多个轮廓点用于标识所述待选图像的待选区域的轮廓； 基于所述轮廓点确定所述轮廓点对应的目标点对；所述目标点对包括第一点和第二点，所述第一点和所述第二点分别位于所述轮廓点所在部分轮廓的两侧； 将所述第一点的第一灰度和所述第二点的第二灰度进行灰度对比，得到所述目标点对的第一对比结果； 在满足预设数量的所述第一对比结果都标识所述第一灰度与所述第二灰度的差异达到预设差异时，确定所述待选区域为异常区域； 在所述基于所述轮廓点确定所述轮廓点对应的目标点对之前，所述方法还包括： 将所述待选区域的尺寸参数与预设参数进行对比，得到第二对比结果； 在所述第二对比结果标识所述尺寸参数大于或等于所述预设参数时，所述基于所述轮廓点确定所述轮廓点对应的目标点对，包括： 将位于所述轮廓点所在部分轮廓的外侧的点确定为所述第一点； 将位于所述轮廓点所在部分轮廓的内侧的点确定为所述第二点；所述第一点、所述第二点和所述轮廓点位于同一直线上。

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